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J-GLOBAL ID：200903056061653563

内視鏡装置

Inventor： 古澤 宏一 ,  江口 勝 ,  宇津井 哲也 ,  中村 哲也 ,  小澤 了 ,  岡田 慎介
Applicant, Patent owner： 旭光学工業株式会社
Agent (1)： 金井 英幸
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1999306441
Publication number (International publication number)：2001125009
Application date： Oct. 28, 1999
Publication date： May. 11, 2001
Summary：

【要約】【課題】 OCTによる断層像が得られる内視鏡装置を、提供する。【解決手段】 SLD231から射出されてファイバアレイFの各光ファイバに導かれた各光線は、干渉計部154に入射する。干渉計部154は、各光線を夫々分岐させて一方の各光線を被検体Tへ向けて射出するビームスプリッタS,分岐された他方の各光線を導くGIプレート154b,該GIプレート154bにより導かれた各光線をビームスプリッタSへ向けて反射させる反射面R,及び,被検体Tにより反射された各光線と反射面Rにより反射された各光線とがビームスプリッタSにおいて干渉して生じる各干渉光を夫々検出する光検出器Dによりなる。干渉計部154が、被検体Tに近接又は離反するように駆動される間に光検出器Dにより得られる信号に基づき、被検体Tの断層像が得られる。

Claim (excerpt)：

複数の光路を有する導波手段と、この導波手段の基端側に配置され、当該導波手段の各光路に低可干渉性光を夫々入射させる低可干渉性光源と、この導波手段の先端から射出された各低可干渉性光を夫々分岐させて一方の各低可干渉性光を被検体へ向けて射出する光分岐素子,該光分岐素子により分岐された他方の各低可干渉性光を導く参照光学系,該参照光学系により導かれた各低可干渉性光を前記光分岐素子へ向けて反射させる反射手段,及び,被検体により反射された各低可干渉性光と前記反射手段により反射された各低可干渉性光とが前記光分岐手段において干渉して生じる各干渉光を夫々検出する光検出器を有する干渉計部と、この干渉計部を、被検体に対して近接又は離反させるように変位させる駆動手段と、前記干渉計部の前記光検出器から検出された信号に基づき、被検体の断層像を形成する信号処理手段とを備えたことを特徴とする内視鏡装置。

IPC (4)：

G02B 23/24 ,  A61B 1/00 300 ,  A61B 1/00 ,  G01B 11/00

FI (4)：

G02B 23/24 B ,  A61B 1/00 300 D ,  A61B 1/00 300 T ,  G01B 11/00 G

F-Term (62)：

2F065AA52 ,  2F065BB05 ,  2F065BB29 ,  2F065CC16 ,  2F065DD02 ,  2F065DD06 ,  2F065FF42 ,  2F065FF52 ,  2F065GG07 ,  2F065GG09 ,  2F065GG21 ,  2F065GG24 ,  2F065JJ03 ,  2F065JJ26 ,  2F065LL00 ,  2F065LL01 ,  2F065LL03 ,  2F065LL04 ,  2F065LL10 ,  2F065LL12 ,  2F065LL21 ,  2F065LL26 ,  2F065LL30 ,  2F065LL42 ,  2F065LL46 ,  2F065PP01 ,  2F065PP21 ,  2F065QQ03 ,  2F065QQ24 ,  2F065SS02 ,  2F065SS13 ,  2H040AA00 ,  2H040BA00 ,  2H040CA03 ,  2H040CA06 ,  2H040CA09 ,  2H040CA11 ,  2H040CA12 ,  2H040CA21 ,  2H040DA18 ,  2H040DA21 ,  2H040GA02 ,  4C061AA00 ,  4C061BB01 ,  4C061BB08 ,  4C061CC04 ,  4C061CC06 ,  4C061DD00 ,  4C061FF40 ,  4C061FF46 ,  4C061FF47 ,  4C061LL02 ,  4C061LL08 ,  4C061MM03 ,  4C061NN01 ,  4C061NN05 ,  4C061QQ04 ,  4C061QQ07 ,  4C061VV01 ,  4C061WW10 ,  4C061WW17 ,  4C061WW20

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (4)

• 機能診断内視鏡
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平4-225429   Applicant：富士写真フイルム株式会社
• 画像計測装置
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平7-312808   Applicant：株式会社生体光情報研究所
• 特開平3-273103
  
• 内視鏡装置
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平5-304427   Applicant：オリンパス光学工業株式会社