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J-GLOBAL ID：200903056354537410

断層像作成装置及び放射線検査装置

Inventor： 小嶋 進一 ,  上野 雄一郎 ,  雨宮 健介 ,  柳田 憲史 ,  北口 博司 ,  土屋 一俊 ,  横井 一磨
Applicant, Patent owner： 株式会社日立製作所
Agent (1)： 磯野 道造
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2003152660
Publication number (International publication number)：2004350942
Application date： May. 29, 2003
Publication date： Dec. 16, 2004
Summary：

【課題】複数モダリティの同時撮像における手続きの簡素化及び補正処理の高度化を実現できるようにする。【解決手段】環状に配置された多数の放射線検出器4を用いて、周方向に移動するX線源9から放出されて被検体35を透過したX線を検出すると共に、被検体35から放出される複数のγ線の対を検出する。コンピュータ27は、X線CT像から被検体35内の関心領域を抽出すると共に、抽出した関心領域の断面積又は体積情報を用いて被検体35の機能情報の画像処理を行う。【選択図】 図1

Claim (excerpt)：

生体の密度情報又は当該密度情報に変換可能な情報と、前記生体の機能情報とを共に得ることが可能な断層像作成装置において、 前記生体の密度情報又は当該密度情報に変換可能な情報により前記生体の断面積又は体積情報を得ると共に、前記生体の断面積又は体積情報を用いて前記生体の機能情報の画像処理を行うことを特徴とする断層像作成装置。

IPC (5)：

A61B6/03 ,  A61B5/055 ,  G01R33/28 ,  G01T1/161 ,  G06T1/00

FI (6)：

A61B6/03 320R ,  A61B6/03 370Z ,  G01T1/161 E ,  G06T1/00 290A ,  A61B5/05 390 ,  G01N24/02 Y

F-Term (47)：

2G088EE02 ,  2G088FF02 ,  2G088FF04 ,  2G088GG21 ,  2G088JJ02 ,  2G088JJ21 ,  4C093AA22 ,  4C093AA30 ,  4C093BA04 ,  4C093CA37 ,  4C093EB13 ,  4C093EB28 ,  4C093FA12 ,  4C093FA19 ,  4C093FA32 ,  4C093FA34 ,  4C093FA43 ,  4C093FA52 ,  4C093FC01 ,  4C093FF28 ,  4C093FF35 ,  4C093FF37 ,  4C096AA18 ,  4C096AB41 ,  4C096AD03 ,  4C096AD22 ,  4C096DA03 ,  4C096DC27 ,  4C096DC35 ,  4C096DC40 ,  4C096DD20 ,  4C096FC20 ,  5B057AA09 ,  5B057BA03 ,  5B057CA02 ,  5B057CA08 ,  5B057CA13 ,  5B057CA16 ,  5B057CG10 ,  5B057CH08 ,  5B057CH11 ,  5B057DA07 ,  5B057DA08 ,  5B057DA16 ,  5B057DB03 ,  5B057DB05 ,  5B057DC04

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (3)

• 照射野の形成方法及び形成装置
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平9-186108   Applicant：三菱電機株式会社
• 特開昭59-183461
  
• 放射線検査装置及び放射線検査方法
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願2001-275897   Applicant：株式会社日立製作所