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J-GLOBAL ID：200903056441542187

品質影響要因解析方法、品質予測方法、品質制御方法、品質影響要因解析装置、品質予測装置、品質制御装置、品質影響要因解析システム、品質予測システム、品質制御システム、及びコンピュータプログラム

Inventor：
中川 義明

About 中川 義明

, 
加納 学

About 加納 学


Applicant, Patent owner：
住友金属工業株式会社

About 住友金属工業株式会社


Agent (2)： 河野 登夫 ,  河野 英仁
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2004053572
Publication number (International publication number)：2005242818
Application date： Feb. 27, 2004
Publication date： Sep. 08, 2005
Summary：
【課題】 現実に得られる製造の条件のデータと品質との関係を多変量解析を用いて明らかにする品質影響要因解析方法、解析結果を利用した品質予測方法、品質制御方法、品質影響要因解析装置、品質予測装置、品質制御装置、品質影響要因解析システム、品質予測システム、品質制御システム及びコンピュータプログラムを提供する。 【解決手段】 本発明においては、製品の製造における種々の条件を示す互いに相関があるN種類の条件データを、互いに無相関なN>PであるP種類の成分へ変換し(S14)、P種類の成分の夫々の品質への影響を示すP個の影響指標を多変量解析により計算し(S15)、P個の影響指標を、N種類の条件データの夫々の品質への影響を示すN個の影響データへ変換する(S16)。この解析結果を利用して品質の予測および制御を行う。【選択図】 図3
Claim (excerpt)：
記憶部及び演算部を備えるコンピュータを用いて、製品の製造における品質への影響要因を解析する方法において、 製品の製造に係る各種の条件を示すN種類(Nは自然数)の条件データを、製造された製品の品質を示す品質データに関連づけて前記記憶部で記憶するステップと、 前記記憶部で記憶する前記N種類の条件データを、前記品質データが関連づけられた状態で、P<Nである互いに無相関なP種類(Pは自然数)の成分へ前記演算部で変換する変換ステップと、 前記P種類の成分に関連づけられている品質データが示す品質に対する前記P種類の成分の夫々の影響を示すP個の影響指標を多変量解析により前記演算部で計算する影響指標計算ステップと、 前記演算部で前記N種類の条件データを前記P種類の成分へ変換した方法に応じた方法で前記P個の影響指標を逆にN個のデータへ変換することによって、前記N種類の条件データに関連づけられている品質データが示す品質に対する前記N種類の条件データの夫々の影響を示すN個の影響データを求めるステップと を含むことを特徴とする品質影響要因解析方法。
IPC (2)：
G05B19/418 ,  B21B37/00
FI (2)：
G05B19/418 Z ,  B21B37/00 Z
F-Term (6)：
3C100AA68 ,  3C100BB05 ,  3C100BB12 ,  3C100BB13 ,  3C100EE10 ,  4E024GG10
Patent cited by the Patent：
Cited by applicant (3) Cited by examiner (2)
  • 品質不良の原因解析方法
    Gazette classification：公開公報   Application number：特願2001-311140   Applicant：新日本製鐵株式会社
  • 半導体処理装置
    Gazette classification：公開公報   Application number：特願2001-258116   Applicant：株式会社日立製作所, 株式会社日立インダストリイズ
Article cited by the Patent：
Cited by examiner (1)

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