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J-GLOBAL ID：200903056487895785

液晶表示装置検査方法およびその装置

Inventor：
青木 由隆

About 青木 由隆

, 
岡田 薫

About 岡田 薫


Applicant, Patent owner：
カシオ計算機株式会社

About カシオ計算機株式会社


Agent (1)： 杉村 次郎
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1994062183
Publication number (International publication number)：1995248479
Application date： Mar. 08, 1994
Publication date： Sep. 26, 1995
Summary：
【要約】【目的】 全点灯検査およびショート検査に要する時間を短縮する。【構成】 6個の液晶表示装置61a〜61fを形成するための液晶表示装置形成体61を、軸5を中心に回動する液晶表示装置保持板6に位置決めして吸着させる。次に、液晶表示装置保持板6を起こして所定の位置に固定する。そして、プローブ26をスライド板24と共に右方向に間歇的に移動させ、プローブ26を介して6個の液晶表示装置61a〜61fを順次検査する。この場合、個々の液晶表示装置に対して1つずつ検査するよりも、短時間で検査することができる。なお、全点灯検査とショート検査は、操作部11の検査機能切り換えボタンの切り換えによって選択する。
Claim (excerpt)：
配列された複数の液晶表示装置と1つの検査手段とのいずれか一方を所定の方向に間歇的に移動させながら、前記検査手段で前記複数の液晶表示装置を順次検査することを特徴とする液晶表示装置検査方法。
IPC (3)：
G02F 1/13 101 ,  G09G 3/18 ,  G09G 5/00
Patent cited by the Patent：
Cited by examiner (13)
  • TFT-LCDの検査方法及びその装置
    Gazette classification：公開公報   Application number：特願平5-133796   Applicant：株式会社テレニクス
  • 特開平3-142498
  • 特開昭62-204291
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