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J-GLOBAL ID：200903056508394986

蛍光寿命測定装置

Inventor：
小谷 理

About 小谷 理


Applicant, Patent owner：
オリンパス株式会社

About オリンパス株式会社


Agent (1)： 酒井 宏明
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2004223466
Publication number (International publication number)：2005091349
Application date： Jul. 30, 2004
Publication date： Apr. 07, 2005
Summary：
【課題】簡易な方法により、短時間の測定で精度良く蛍光寿命を算出するための蛍光寿命測定装置を提供すること。【解決手段】試料5に励起光を照射し、試料5から発する蛍光光子を複数のゲート長で測定し、測定された各ゲート蛍光光子数をもとに試料5の蛍光寿命を算出する蛍光寿命測定装置100において、蛍光光子数の測定開始直後から前記ゲート蛍光光子数を測定する開始ゲート長を変更するゲート長制御部1bと、測定開始時から測定終了時までの全ゲート長を変更する全ゲート長制御部1aと、開始ゲート長と開始ゲート長の間に測定されたゲート蛍光光子数を含む複数の前記ゲート蛍光光子数とをもとに蛍光寿命を演算する演算処理部4と、蛍光寿命が所定の条件を満足していない場合、ゲート長制御部1bおよび全ゲート長制御部1aに対し、開始ゲート長と全ゲート長とを変更させる制御を行う確定判定部1cと、を備える。【選択図】 図1
Claim (excerpt)：
試料に励起光を照射し、該励起光によって励起された前記試料から発する蛍光光子数を複数の時間帯である複数のゲート長で測定し、該複数のゲート長で測定された各ゲート蛍光光子数をもとに前記試料の蛍光寿命を演算して確定する蛍光寿命測定装置において、 前記蛍光光子数の測定開始直後から前記ゲート蛍光光子数を測定する前記ゲート長である開始ゲート長を少なくとも変更するゲート長変更手段と、 前記蛍光光子数の測定開始時から測定終了時までの時間である全ゲート長を変更する全ゲート長変更手段と、 前記開始ゲート長と該開始ゲート長の間に測定された前記ゲート蛍光光子数を含む複数の前記ゲート蛍光光子数とをもとに前記蛍光寿命を演算する演算手段と、 前記蛍光寿命が所定の条件を満足していない場合、前記ゲート長変更手段および前記全ゲート長変更手段に対し、前記開始ゲート長と前記全ゲート長とを変更させる制御を行う制御手段と、 を備えたことを特徴とする蛍光寿命測定装置。
IPC (1)：
G01N21/64
FI (1)：
G01N21/64 B
F-Term (14)：
2G043BA16 ,  2G043EA01 ,  2G043FA01 ,  2G043FA03 ,  2G043GA08 ,  2G043GB21 ,  2G043HA01 ,  2G043KA08 ,  2G043KA09 ,  2G043LA02 ,  2G043NA01 ,  2G043NA02 ,  2G043NA05 ,  2G043NA06
Patent cited by the Patent：
Cited by applicant (1) Cited by examiner (3)

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