Pat
J-GLOBAL ID:200903057352010348
X線透視撮影装置
Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (1):
河▲崎▼ 眞樹
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):2001306371
Publication number (International publication number):2003114201
Application date: Oct. 02, 2001
Publication date: Apr. 18, 2003
Summary:
【要約】【課題】 試料ステージの位置決めや回動、あるいはX線カメラの傾動操作を、従来の装置に比してより簡単に行うことができ、試料の非破壊検査等の作業効率を向上させることのできるX線透視撮影装置を提供する。【解決手段】 X線透視像を表示する表示器11の画面上に、透視像の表示エリアApに近接もしくは重畳して、X線カメラ2の傾動機構4、試料ステージ3の回転機構6および移動機構8を操作するための操作部41a等を表示する操作部表示エリアAmを設け、ポインティングデバイス12により操作できるようにすることで、同一視野内に試料Wの透視像と操作部を入れた状態での操作を可能とする。
Claim (excerpt):
X線源と、そのX線源に対向配置されたX線画像検出手段との間に、試料を載せるための試料ステージが配置されているとともに、その試料ステージをX線光軸方向を含む互いに直交する3軸方向に独立的に移動させるステージ移動機構と、上記試料ステージもしくはX線画像検出手段をX線光軸に沿った軸を中心として回転させる回転機構と、上記X線画像検出手段をX線光軸に対して傾動させるX線画像検出手段傾動機構と、そのX線画像検出手段の出力を用いて試料のX線透視像を表示する表示器を備えたX線透視撮影装置において、上記表示器の表示画面上に、X線透視像の表示エリアに近接もしくは重畳して、上記ステージ移動機構の各軸、回転機構およびX線画像検出手段傾動機構をそれぞれ駆動するための各操作部を一括表示する操作部表示エリアが設定されているとともに、その操作部表示エリアの各操作部を、ポインティングデバイスを用いて操作することにより該当の機構に対して駆動信号が与えられるように構成されていることを特徴とするX線透視撮影装置。
IPC (3):
G01N 23/04
, G21K 5/02
, H04N 7/18
FI (3):
G01N 23/04
, G21K 5/02 X
, H04N 7/18 L
F-Term (23):
2G001AA01
, 2G001BA11
, 2G001CA01
, 2G001DA09
, 2G001FA06
, 2G001GA06
, 2G001GA08
, 2G001GA13
, 2G001HA13
, 2G001JA06
, 2G001JA07
, 2G001JA08
, 2G001JA13
, 2G001JA20
, 2G001KA03
, 2G001PA11
, 2G001PA12
, 2G001PA14
, 5C054CA02
, 5C054CF05
, 5C054CG08
, 5C054FE17
, 5C054HA12
Patent cited by the Patent:
Cited by examiner (5)
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X線透視装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願2000-059222
Applicant:株式会社島津製作所
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エックス線可変斜視角透視装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願2000-010764
Applicant:日立電子株式会社, 株式会社日立国際電気
-
走査電子顕微鏡
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平7-083963
Applicant:株式会社日立製作所
-
荷電粒子線照射装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平8-060605
Applicant:株式会社日立製作所
-
特開昭53-031989
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