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J-GLOBAL ID：200903057364218440

光断層画像取得装置

Inventor：
辻田 和宏

About 辻田 和宏


Applicant, Patent owner：
富士写真フイルム株式会社

About 富士写真フイルム株式会社


Agent (2)： 柳田 征史 ,  佐久間 剛
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2004285969
Publication number (International publication number)：2006095143
Application date： Sep. 30, 2004
Publication date： Apr. 13, 2006
Summary：
【課題】 高分解能の光断層画像を取得可能な光断層画像取得装置を小型化する。 【解決手段】光断層画像取得の際には、ミラー回転部184によりミラー176 を回転させて、測定光L4の照射方向を回転させ、また、光路長変更部の動作を制御して照射方向の1回転毎に、測定光L4の被照射部位において、光軸方向の測定点の位置を移動させ、照射方向の1回転毎に、シース回転部183によりシース177 を回転させ、ネジ機構を介してレンズホルダー180 内に固定されたレンズ179 の位置を移動させ、測定光L4の光軸方向の集光位置を、光軸方向の測定点の位置に合わせて移動させる。測定光L4の照射方向の回転に合わせて、測定光L4の光軸方向の集光位置を移動させればよいので、従来の装置に比べ、集光位置の移動速度を低速化することができ、従来必要であった大型で高速動作可能な集光位置移動手段は不要となる。【選択図】 図2
Claim (excerpt)：
コヒーレンス長20μm以下の低コヒーレンス光を測定光と参照光に分割し、前記参照光の光路長または前記測定光の光路長の少なくとも一方を変更し、前記測定光を被測定物に照射し、前記測定光の前記被測定物からの反射光を受光し、前記測定光の反射光と前記参照光とを干渉させ、該干渉後の干渉光強度を測定して、前記被測定物の光断層画像を取得する光断層画像取得装置において、 前記測定光の照射方向を、1点を中心に回転させる照射方向回転手段と、 前記測定光の照射方向の回転と同期して前記光路長を変更する光路長変更手段と、 前記測定光を集光する焦点位置可変型の集光レンズ系と、 前記測定光の照射方向の回転と同期して、前記集光レンズ系の焦点位置を移動することにより前記測定光の光軸方向の集光位置を移動する集光位置移動手段とを備えたことを特徴とする光断層画像取得装置。
IPC (3)：
A61B 10/00 ,  A61B 1/00 ,  G01N 21/17
FI (4)：
A61B10/00 E ,  A61B1/00 300D ,  A61B1/00 300T ,  G01N21/17 630
F-Term (35)：
2G059AA05 ,  2G059AA06 ,  2G059BB12 ,  2G059BB14 ,  2G059CC16 ,  2G059EE02 ,  2G059EE09 ,  2G059FF08 ,  2G059GG01 ,  2G059HH01 ,  2G059HH02 ,  2G059HH06 ,  2G059JJ11 ,  2G059JJ12 ,  2G059JJ13 ,  2G059JJ15 ,  2G059JJ17 ,  2G059JJ22 ,  2G059KK04 ,  2G059LL01 ,  2G059MM05 ,  2G059PP04 ,  4C061AA00 ,  4C061BB00 ,  4C061CC06 ,  4C061DD03 ,  4C061FF35 ,  4C061FF40 ,  4C061FF47 ,  4C061HH51 ,  4C061JJ11 ,  4C061LL02 ,  4C061QQ02 ,  4C061QQ03 ,  4C061VV04
Patent cited by the Patent：
Cited by applicant (2)

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