Pat
J-GLOBAL ID:200903037062062645

画像化装置

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (1): 柳田 征史 (外1名)
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):2001315464
Publication number (International publication number):2002202253
Application date: Oct. 12, 2001
Publication date: Jul. 19, 2002
Summary:
【要約】【課題】 OCT機能付きで、コンパクトな画像化装置を提供する。【解決手段】 照明光L1を照射された観察部2で反射された反射光L2による観察部像を撮像レンズ106 を介してCCD撮像素子104 により撮像し、観察部画像としてモニタ202 に表示する。また光断層画像取得用の信号光L7をファイバ156により挿入部10内に導光し、撮像レンズ106 を介して生体測定部1に照射する。ピエゾアクチュエータ110 によりファイバ156 の出射端109 を移動させることにより、信号光L7の走査を行う。OCT取得部12では、生体測定部1で反射した信号光L7’と参照光L6の低コヒーレンス干渉を用いて光断層画像を取得し、モニタ201 に表示する。撮像レンズ106 を通して信号光L7による走査を行うため、光断層画像取得用のOCT検出子を鉗子口に挿入する必要がない。このため、必要な鉗子口の本数が低減され、挿入部10の細径化が可能となる。
Claim (excerpt):
照明光を観察部に照射する照明光照射手段と、前記照明光照射手段により前記照明光を照射された前記観察部で反射された反射光による像を撮像レンズを通して撮像する撮像手段と、該撮像手段により撮像された像に基づいた観察部画像を表示する観察部画像表示手段とを有する観察部画像取得手段と、低コヒーレンス光である信号光で、前記観察部内の所定の走査領域を走査し、該走査領域上の所定深部からの反射光と、前記信号光と僅かな周波数差を有する参照光との干渉を用いて、前記走査領域の光断層画像を取得するOCT手段とを備えた画像化装置において、前記OCT手段が前記撮像レンズを通して前記信号光による走査を行うことを特徴とする画像化装置。
IPC (2):
G01N 21/17 630 ,  A61B 10/00
FI (2):
G01N 21/17 630 ,  A61B 10/00 E
F-Term (17):
2G059AA05 ,  2G059AA06 ,  2G059BB12 ,  2G059EE02 ,  2G059FF01 ,  2G059GG01 ,  2G059HH01 ,  2G059HH06 ,  2G059JJ06 ,  2G059JJ17 ,  2G059JJ30 ,  2G059KK04 ,  2G059LL04 ,  2G059MM01 ,  2G059MM09 ,  2G059MM10 ,  2G059PP04
Patent cited by the Patent:
Cited by examiner (3)
  • 光断層イメ-ジング装置
    Gazette classification:公開公報   Application number:特願平11-316980   Applicant:オリンパス光学工業株式会社
  • 画像計測装置
    Gazette classification:公開公報   Application number:特願平7-312808   Applicant:株式会社生体光情報研究所
  • 光走査プローブ装置
    Gazette classification:公開公報   Application number:特願平10-266753   Applicant:オリンパス光学工業株式会社

Return to Previous Page