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J-GLOBAL ID:200903057381339049

電子機器用試験箱

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (3): 磯野 道造 ,  多田 悦夫 ,  町田 能章
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):2005148890
Publication number (International publication number):2006153841
Application date: May. 23, 2005
Publication date: Jun. 15, 2006
Summary:
【課題】 電子機器を操作するための開口部や換気用の通路があっても、電波の遮蔽性および吸収性を維持しつつ、電子機器の試験を精密に行うことが可能な電子機器用試験箱を提供する。【解決手段】 内部に携帯電話Pが入れられ、携帯電話Pの動作を試験するための電子機器用試験箱B1であって、電波の遮蔽性、および、携帯電話Pから放射された電波を吸収する電波吸収性を有する試験箱本体10と、試験箱本体10の外部と内部を連通させるために試験箱本体10に設けられると共に、所定波長より長い波長の電波を伝搬しない手挿入用導波管50、50および排気用導波管60を備えた。【選択図】 図1
Claim (excerpt):
内部に電子機器が入れられ、当該電子機器の動作を試験するための電子機器用試験箱であって、 電波の遮蔽性、および、前記電子機器から放射された電波を吸収する電波吸収性を有する試験箱本体と、 前記試験箱本体の外部と内部との空気の流通を確保しつつ、電波を遮蔽する電波遮蔽手段と、 を備えたことを特徴とする電子機器用試験箱。
IPC (1):
G01R 29/10
FI (1):
G01R29/10 E
F-Term (5):
5E321AA01 ,  5E321AA42 ,  5E321BB53 ,  5E321GG09 ,  5E321GG11
Patent cited by the Patent:
Cited by applicant (1)
  • 特許第3097524号公報(段落番号0003、0008〜0010、図1、図5)
Cited by examiner (7)
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