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J-GLOBAL ID：200903057442904496

静的およびまたは動的光散乱を測定する測定装置

Inventor：
ウイルヘルム・ペータース

About ウイルヘルム・ペータース


Applicant, Patent owner：
アーエルフアウ- レーザー・フエルトリープスゲゼルシヤフト・ミト・ベシユレンクテル・ハフツング

About アーエルフアウ- レーザー・フエルトリープスゲゼルシヤフト・ミト・ベシユレンクテル・ハフツング


Agent (1)： 江崎 光史 (外2名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1998081413
Publication number (International publication number)：1998339694
Application date： Mar. 27, 1998
Publication date： Dec. 22, 1998
Summary：
【要約】【課題】 多数の散乱角から散乱光を同時に測定することができると共に、簡単かつ正確な検出器調節を可能にする、静的または動的光散乱を測定する測定装置を開発する。【解決手段】 静的およびまたは動的光散乱を測定するための測定装置は、レーザ光線を発生するためのレーザ光源を備えている。このレーザ光線によって、円筒状のキュヴェットに含まれる試料を照射することができる。この試料は回転テーブルの中央に回転軸線と同軸にかつレーザ光線に対して直交するように配置されている。この場合、試料によって散乱する光を測定するための多数の検出器が、回転テーブル上に任意の角度で並べて配置されている。
Claim (excerpt)：
レーザ光線(1)を発生するための光源を備え、この光源が円筒状キュヴェットに含まれる試料(3)を照射し、試料が回転テーブル(7)の中央において回転テーブルの回転軸線と同軸にかつレーザ光線に対して直交するように配置されている、静的光散乱と動的光散乱の少なくとも一方を測定する測定装置において、試料から散乱する光を測定するための多数の検出器(8)が、回転テーブル上に任意の角度で並べて配置され、各々の検出器が調節装置を備え、この調節装置により、回転テーブル上に配置された、レーザ光線を用いる検出器が、その各々の零度位置でレーザ光線と相対的に調節可能であり、それによって調節後すべての検出器が回転中心の共通の個所の方へ向けられることを特徴とする測定装置。
IPC (5)：
G01N 15/14 ,  G01J 1/00 ,  G01N 15/02 ,  G01N 21/03 ,  G01N 21/49
FI (5)：
G01N 15/14 P ,  G01J 1/00 ,  G01N 15/02 A ,  G01N 21/03 Z ,  G01N 21/49 Z
Patent cited by the Patent：
Cited by examiner (4)
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