光磁気記録用偏光光学系

Inventor： ,
Applicant, Patent owner：
Agent (1)：土屋勝
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1992034205
Publication number (International publication number)：1993205339
Application date： Jan. 24, 1992
Publication date： Aug. 13, 1993
Summary：

【要約】【目的】小型で且つ薄型の光磁気記録用ピックアップを作ることができる光磁気記録用偏光光学系を提供する。【構成】光28を偏光膜15へ入射させると、p偏光のみが透過してフォトダイオード13へ入射し、s偏光は反射されて四分の一波長板17へ入射する。このs偏光は、全反射膜18で反射され四分の一波長板17中を往復してp偏光になるので、偏光膜15を透過してフォトダイオード14へ入射する。従って、偏光膜15の入射面に対して偏光方向が45°だけ傾いている光28を用いれば、光磁気ディスク29で偏光面を回転されていない成分は、フォトダイオード13、14へ等分される。従って、光磁気記録用ピックアップを作ることができ、しかも、小型で且つ薄型にすることができる。

Claim (excerpt)：

半導体基板に形成されている第1及び第2の受光素子と、少なくともこれら第1及び第2の受光素子上に設けられており、直線偏光である第1の光を透過すると共にこの第1の光とは偏光面が直交する直線偏光である第2の光を反射する偏光膜と、この偏光膜上に配されているプリズムと、このプリズムの前記偏光膜とは反対側の面上に設けられている四分の一波長板と、この四分の一波長板上に配されている全反射膜とを具備する光磁気記録用偏光光学系。

IPC (2)：

G11B 11/10 , G11B 7/135

Patent cited by the Patent：

Cited by applicant (6)

光ヘツド
Gazette classification：公開公報 Application number：特願平3-326937 Applicant：アルプス電気株式会社
特開平4-362554
特開平3-214102

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Cited by examiner (1)

光ヘツド
Gazette classification：公開公報 Application number：特願平3-326937 Applicant：アルプス電気株式会社

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