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J-GLOBAL ID：200903057698382063

ターゲット装置及び三次元測量システム

Inventor： 大津 愼一 ,  佐田 達典 ,  村山 盛行 ,  清水 哲也
Applicant, Patent owner： 三井建設株式会社
Agent (1)： 相田 伸二 (外1名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2000381500
Publication number (International publication number)：2002181546
Application date： Dec. 15, 2000
Publication date： Jun. 26, 2002
Summary：

【要約】【課題】 レーザを利用して高精度な測量を実現すること。【解決手段】 ターゲット部材2に、異なる色からなる複数の反射材5を配設し、反射したレーザが示す色によりターゲット部材2のどの位置で反射したものかを特定する。

Claim (excerpt)：

ターゲット部材を有し、前記ターゲット部材に位置決め手段を設け、前記ターゲット部材に、反射するレーザの性状変化態様が異なる複数種類のレーザ性状変化部材を、各レーザ性状変化部材が前記位置決め手段に対して既知なる三次元位置関係をもつ形で配設して構成した、ことを特徴とするターゲット装置。

IPC (2)：

G01C 15/06 ,  G01C 15/00 103

FI (2)：

G01C 15/06 T ,  G01C 15/00 103 D

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (2)

• 測量用装置
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平6-138621   Applicant：株式会社トプコン
• 測量機用ターゲット
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平9-017748   Applicant：株式会社ニコン