Pat
J-GLOBAL ID：200903058033624240
アクティブマトリクスESD保護及び試験方法
Inventor：
,
Applicant, Patent owner：
Agent (1)：
杉村 暁秀 (外5名)
Gazette classification：公表公報
Application number (International application number)：1997507844
Publication number (International publication number)：1999510271
Application date： Jul. 30, 1996
Publication date： Sep. 07, 1999
Summary：
【要約】最終組み立てまでESD保護を有するとともに、中間試験及び修理を行いうる改良されたアクティブマトリクスディスプレイの製造方法を提供する。少なくとも第1組の短絡バー(12,14,16,18)を行(34)及び列(36)マトリクスに隣接して形成する。これらの短絡バーをそれぞれ互いに直列に結合してマトリクス阻止の試験を可能にする。第1の短絡バーを奇数行ラインに結合し、第2の短絡バーを偶数行ラインに結合し、第3の短絡バーを奇数列ラインに結合し、第4の短絡バーを偶数列ラインに結合する。これらの短絡バーは最終組み立てまでマトリクスに結合されたままにしてESD保護を与えるとともに中間試験及び完成試験を可能にすることができる。
Claim (excerpt)：
複数の薄膜トランジスタを含み、各トランジスタが画素をディスプレイマトリクスの行及び列ラインに結合するアクティブマトリクスディスプレイの製造方法において、 少なくとも第1組の内部短絡バーを第1基板上のディスプレイマトリクスに隣接して形成し、これらの短絡バーの第1のバーを全奇数行ラインに結合し、第2のバーを全偶数行ラインに結合し、第3のバーを全奇数列ラインに結合し、第4のバーを全偶数列ラインに結合し、 これらの各短絡バーは第1の抵抗値を有し、これらの短絡バーを前記第1の抵抗値の100倍の大きさの抵抗により直列に相互することを特徴とするアクティブマトリクスディスプレイの製造方法。
IPC (4)：
G02F 1/1343
, G01R 31/00
, G02F 1/136 500
, H01L 29/786
G02F 1/1343
, G01R 31/00
, G02F 1/136 500
, H01L 29/78 612 A
Cited by examiner (8)
Show all
Return to Previous Page
