三次元測定機の制御方法および形状検証方法

Inventor： ,
Applicant, Patent owner：
Agent (1)：山▲崎▼ 薫
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1999110271
Publication number (International publication number)：2000304528
Application date： Apr. 19, 1999
Publication date： Nov. 02, 2000
Summary：

【要約】【課題】測定点の数を減少させながらも精度よく加工品や成型品といった三次元物体の形状を測定することができる三次元測定機の制御方法を提供する。【解決手段】コンピュータは、三次元物体の形状を規定するポリゴンデータを取得する。ポリゴンデータで表現されるポリゴンの頂点32に三次元測定機の測定点は設定される。ポリゴンデータでは、ポリゴンの各辺33と三次元物体表面34との間に生じる乖離は許容差tに必ず収められる。その結果、曲率の大きな表面では大きなポリゴンが形成され、曲率の小さな表面では小さなポリゴンが形成される。したがって、指定された精度に見合った間隔で三次元物体表面の三次元座標値は取得されることができる。

Claim (excerpt)：

三次元物体の形状を規定するポリゴンデータを取得する工程と、ポリゴンデータに基づき構築されるポリゴンの頂点を通過するアプローチベクトルを設定する工程と、アプローチベクトルが交差する三次元物体表面の三次元座標値を取得させる工程とを備えることを特徴とする三次元測定機の制御方法。

IPC (2)：

G01B 21/20 , G01B 5/20

FI (2)：

G01B 21/20 C , G01B 5/20 C

F-Term (28)：

2F062AA04 , 2F062AA51 , 2F062CC27 , 2F062EE01 , 2F062EE62 , 2F062FF05 , 2F062FF27 , 2F062FF28 , 2F062HH01 , 2F062HH13 , 2F062HH27 , 2F062JJ00 , 2F069AA04 , 2F069AA66 , 2F069DD15 , 2F069DD19 , 2F069GG01 , 2F069GG52 , 2F069GG62 , 2F069GG72 , 2F069HH01 , 2F069JJ08 , 2F069JJ27 , 2F069LL02 , 2F069LL13 , 2F069NN08 , 2F069QQ05 , 2F069QQ12

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (2)

加工データの修正方法及びその装置
Gazette classification：公開公報 Application number：特願平9-082784 Applicant：株式会社東芝
測定プログラム自動作成機能を有する測定システム
Gazette classification：公開公報 Application number：特願平5-344145 Applicant：株式会社牧野フライス製作所

Article cited by the Patent：

Cited by examiner (2)

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