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J-GLOBAL ID:200903058563400750

試料中の複数分析物の検出装置

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (3): 加藤 朝道 ,  内田 潔人 ,  三宅 俊男
Gazette classification:公表公報
Application number (International application number):2006528156
Publication number (International publication number):2007506115
Application date: Sep. 22, 2004
Publication date: Mar. 15, 2007
Summary:
【課題】 現在のイムノクロマトグラフィー用ディップスティックの1つの欠点は、ただ1つの分析物の存在しか検出できないことである。また、たとえば尿分析装置は装置間の物質の持ち越しによる汚染の機会が増加し、結果が不正確になる可能性がある。さらに、この形式は、試験片を尿試料から取り出す間に使用者を汚染する可能性があり、吸収紙で吸い取ることでそれを汚染し、それをしばしば製品容器の外面にある見本と対比することで、製品の包装容器自身を汚染させる。しかも、述べたように、結果を読むのに外部の見本が必要となる。【解決手段】本発明は、分析装置、特に流体試料中の複数の分析物の存在及び/又は量を判定し、その試料のより完全な診断又は分析を可能とするイムノアッセイ装置を提供するものである。【選択図】 図1
Claim (excerpt):
流体試料中の複数の分析物の検出装置であって、 軸方向流路を定めるマトリックスを含み、該マトリックスは、 i)前記流路の上流端において前記流体試料を受入れる試料受入れゾーンと、 ii)前記流路内試料受入れゾーンの下流側に位置する標識ゾーンであって、分析物と結合して標識分析物とすることができ流体試料の存在下で流動化可能な標識試薬を含む、該標識ゾーンと、 iii)前記流路内標識ゾーンの下流側に位置する1以上の試験ゾーンであって、各試験ゾーン中に異なる1つの標識分析物又は複数の標識分析物の組み合わせを拘束する手段を有し拘束された標識分析物を各試験ゾーンで検出できる、該1以上の試験ゾーンと、 iv)前記流路内標識ゾーンの下流側に位置し、分析の完了を表示する手段を組み込んだ1以上のコントロールゾーンと、 を含む検出装置。
IPC (4):
G01N 33/543 ,  G01N 33/569 ,  G01N 21/76 ,  G01N 21/78
FI (6):
G01N33/543 521 ,  G01N33/569 L ,  G01N21/76 ,  G01N21/78 C ,  G01N21/78 Z ,  G01N21/78 A
F-Term (19):
2G054AA06 ,  2G054AB05 ,  2G054BB04 ,  2G054CA20 ,  2G054CA21 ,  2G054CA22 ,  2G054CA23 ,  2G054CE01 ,  2G054CE02 ,  2G054CE03 ,  2G054EA01 ,  2G054EA03 ,  2G054EA06 ,  2G054EB11 ,  2G054GA03 ,  2G054GA04 ,  2G054GB02 ,  2G054GB05 ,  2G054GE06
Patent cited by the Patent:
Cited by applicant (3)
  • 特表平7-505293
  • 分析試験装置および方法
    Gazette classification:公表公報   Application number:特願2000-564049   Applicant:スペクトラルダイアグノスティックスインコーポレイテッド
  • クロマトグラフィーアッセイシステム
    Gazette classification:公表公報   Application number:特願2006-514257   Applicant:アクセスバイオ,インク., チョイ,ヨン,ホー, ジャン,ジャエアン
Cited by examiner (6)
  • 特表平7-505293
  • クロマトグラフィーアッセイシステム
    Gazette classification:公表公報   Application number:特願2006-514257   Applicant:アクセスバイオ,インク., チョイ,ヨン,ホー, ジャン,ジャエアン
  • 分析試験装置および方法
    Gazette classification:公表公報   Application number:特願2000-564049   Applicant:スペクトラルダイアグノスティックスインコーポレイテッド
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