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J-GLOBAL ID：200903058818234450

学習理解度分析処理システム

Inventor：
吉川 厚

About 吉川 厚


Applicant, Patent owner：
株式会社教育測定研究所

About 株式会社教育測定研究所


Agent (3)： 田中 泰彦 ,  大越 剛 ,  今井 順一
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2007275126
Publication number (International publication number)：2009103890
Application date： Oct. 23, 2007
Publication date： May. 14, 2009
Summary：
【課題】数十人の少人数から数万人、数十万人といった規模の複数の受験者であってもこれに情報要素を複数含む問題文を与えてこれに対する求解手続の記載を求め、所定の学習項目についての理解度を判断することのできる学習理解度分析処理システムを提供することにある。【解決手段】問題文中から情報要素を抽出する抽出手段(S1)と、抽出された情報要素毎にこれを特徴づけるタームを選択してチェックボックスを作成するチェックボックス作成手段(S2)と、受験者の1の求解手続の記載においてタームの「有」「無」を判断するチェック手段(S3)と、受験者の1を特定するための受験者特定符号を付するとともに、「有」と判断された前記タームに対応するチェックボックスを特定するチェックボックス特定符号をこれに関連付けて情報群を作成する情報群作成手段(S4)と、複数の受験者の求解手続の記載に対して、チェック手段と情報群作成手段とを繰り返し行う手段(S5)と、情報群の類型を収集して統計処理する手段(S6)と、を含むことを特徴とする。【選択図】図1
Claim (excerpt)：
複数の受験者に情報要素を複数含む問題文を与えてこれに対する求解手続の記載を求めて受験者毎の所定の学習項目についての理解度を判断する学習理解度分析処理システムであって、 前記問題文中から前記情報要素を抽出する抽出手段と、 抽出された前記情報要素毎にこれを特徴づけるタームを選択してチェックボックスを作成するチェックボックス作成手段と、 前記受験者の1の前記求解手続の記載において前記タームの有無を判断するチェック手段と、 前記受験者の1を特定するための受験者特定符号を付するとともに有と判断された前記タームに対応する前記チェックボックスを特定するチェックボックス特定符号を前記受験者特定符号と関連付けて情報群を作成する情報群作成手段と、 複数の前記受験者の前記求解手続の記載に対して、前記チェック手段及び前記情報群作成手段を繰り返し行う手段と、 前記情報群の類型を収集して統計処理を行う手段と、を含むことを特徴とする学習理解度分析処理システム。
IPC (2)：
G09B 19/00 ,  G09B 7/02
FI (2)：
G09B19/00 G ,  G09B7/02
F-Term (7)：
2C028AA07 ,  2C028BA01 ,  2C028BB04 ,  2C028BC01 ,  2C028BC02 ,  2C028BD01 ,  2C028CA13
Patent cited by the Patent：
Cited by applicant (3) Cited by examiner (8)
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