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J-GLOBAL ID：200903059116681293

穀粒の品質判定装置

Inventor：
村上 修

About 村上 修

, 
結城 秀恭

About 結城 秀恭


Applicant, Patent owner：
株式会社ケット科学研究所

About 株式会社ケット科学研究所


Agent (1)： 下山 冨士男
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2000355674
Publication number (International publication number)：2002162356
Application date： Nov. 22, 2000
Publication date： Jun. 07, 2002
Summary：
【要約】【課題】本発明は、穀粒の撮像用トレイのメンテナンスを容易にし、穀粒の撮像時の背景除去が容易であり、玄米等の「胴割れ」の検出を容易に可能とし、且つ、スキャナーの撮像台の位置による撮像誤差を無くすこともできる穀粒の品質判定装置を提供する。【解決手段】本発明に係る穀粒の品質判定装置は、撮像用トレイ30上に等間隔に並べられた玄米4を撮像用トレイ30下面方向からスキャナー1により撮像し、撮像した画像により前記玄米4の品質判定を行う穀粒の品質判定装置において、前記撮像用トレイ30の底部は、採取される玄米4の数だけ穴31aの開いた整列板31と、その整列板31の真下に密着して配置される底板32とで構成され、前記スキャナー1の撮像カバー2には撮像用の照明光を反射する反射板21を備えていることを特徴とするものである。
Claim (excerpt)：
撮像用トレイ上に等間隔に並べられた穀粒を撮像用トレイ下面方向から撮像手段により撮像し、撮像した画像により前記穀粒の品質判定を行う穀粒の品質判定装置において、前記撮像用トレイの底部は、採取される穀粒の数だけ穴の開いた整列板と、その整列板の真下に密着して配置される底板とで構成され、前記撮像手段の撮像カバーには撮像用の照明光を反射する反射板を備えていることを特徴とする穀粒の品質判定装置。
IPC (3)：
G01N 21/85 ,  B07C 5/10 ,  G01B 11/24
FI (3)：
G01N 21/85 A ,  B07C 5/10 ,  G01B 11/24 A
F-Term (36)：
2F065AA49 ,  2F065AA51 ,  2F065AA61 ,  2F065BB05 ,  2F065CC00 ,  2F065DD12 ,  2F065FF02 ,  2F065FF42 ,  2F065GG16 ,  2F065HH12 ,  2F065HH15 ,  2F065JJ03 ,  2F065JJ09 ,  2F065JJ19 ,  2F065JJ26 ,  2F065LL11 ,  2F065MM07 ,  2F065PP02 ,  2F065PP11 ,  2G051AA04 ,  2G051AB02 ,  2G051BB01 ,  2G051BB11 ,  2G051CA04 ,  2G051CA06 ,  2G051CB03 ,  2G051EA17 ,  3F079AC17 ,  3F079BA17 ,  3F079CA32 ,  3F079CA42 ,  3F079CB25 ,  3F079CB29 ,  3F079CB33 ,  3F079CB34 ,  3F079CB37
Patent cited by the Patent：
Cited by examiner (4)
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