LA-ICP-MS装置を用いた定量分析方法および有機物含有成形体の製造方法

Inventor： ,
Applicant, Patent owner：
Agent (3)：長谷川芳樹 , 寺崎史朗 , 阿部豊隆
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2003145258
Publication number (International publication number)：2004347473
Application date： May. 22, 2003
Publication date： Dec. 09, 2004
Summary：

【課題】炭素を含有する試料を精度良く定量分析することができるLA-ICP-MS装置を用いた定量分析方法および有機物含有成形体の製造方法を提供すること。【解決手段】LA-ICP-MS装置によって、従来測定困難だった炭素などの元素を測定し、その元素を多く含む測定試料の測定結果を補正することにより、測定試料中の測定元素を精度良く定量分析する。【選択図】図2

Claim (excerpt)：

内部に試料が配置される試料室を有し前記試料にレーザーアブレーションを行うLA部と、前記LA部でのレーザーアブレーションによって生じた微粉体物若しくはガス化物をイオン化して質量分析を行うICP-MS部とを備えるLA-ICP-MS装置を用意するステップと、炭素及び測定元素を含む測定試料を準備するステップと、前記測定試料に含まれた前記炭素及び前記測定元素を既知濃度で含む標準試料を前記試料室内に配置するステップと、前記試料室をパージして内部の炭素量を減少させた後、前記標準試料にレーザーアブレーションを行い、その結果生じた微粉体物若しくはガス化物をイオン化して前記ICP-MS部へ誘導し、前記標準試料から得られた測定元素イオン及び炭素イオンの単位時間当たりに検出されるカウント数を測定する標準試料測定ステップと、前記標準試料測定ステップで測定された前記測定元素イオンのカウント数を前記炭素イオンのカウント数で割った値と前記標準試料における前記測定元素の濃度の既知の値との関係を示す検量データを作成するステップと、前記測定試料を前記試料室内に配置するステップと、前記試料室をパージして内部の炭素量を減少させた後、前記測定試料にレーザーアブレーションを行い、その結果生じた微粉体物若しくはガス化物をイオン化して前記ICP-MS部へ誘導し、前記測定試料から得られた測定元素イオン及び炭素イオンの単位時間当たりに検出されるカウント数を測定する測定試料測定ステップと、前記測定試料測定ステップで測定された前記測定元素イオンのカウント数を前記炭素イオンのカウント数で割った値と前記検量データとに基づいて前記測定試料中の前記測定元素の濃度を求めるステップと、を含むことを特徴とするLA-ICP-MS装置を用いた定量分析方法。

IPC (1)：

G01N27/62

FI (2)：

G01N27/62 F , G01N27/62 D

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (3)

元素分析法
Gazette classification：公開公報 Application number：特願平3-305082 Applicant：住友電気工業株式会社
金属試料中の元素分析装置
Gazette classification：公開公報 Application number：特願平10-196241 Applicant：株式会社堀場製作所
レ-ザ-イオン化中性粒子質量分析法
Gazette classification：公開公報 Application number：特願平8-287114 Applicant：日本電信電話株式会社

Article cited by the Patent：

Cited by examiner (2)

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