歯磨きパターン分析校正装置、双方向歯磨き習慣校正方法およびシステム

Inventor：
Applicant, Patent owner：
Agent (3)：亀谷美明 , 金本哲男 , 萩原康司
Gazette classification：公表公報
Application number (International application number)：2008516740
Publication number (International publication number)：2008543418
Application date： Jun. 07, 2006
Publication date： Dec. 04, 2008
Summary：

【解決手段】歯磨きパターン分析校正装置、歯磨きパターン分析校正方法、双方向歯磨き習慣校正方法および双方向歯磨き習慣校正システムを開示する。歯磨きパターン分析校正装置は、歯ブラシ面と同一方向で形成された本体部と、使用者の歯磨き動作による信号を検知する検知部と、検知部から入力される信号を演算して使用者の歯磨き動作を少なくとも二つ以上のパターンで区分する制御部とを備える。歯磨きパターン分析校正方法は、使用者の歯磨き開始を検出し、歯磨き開始に応答して案内画面を表示し、使用者の歯磨きパターンを検出して使用者の歯磨きパターンを分析し、分析結果より順応度を高める方向で歯磨き校正画面を提供する。使用者の歯磨き習慣を映像物を通じて実時間で双方向的に校正する方式によって歯磨き習慣校正順応度をより向上させ、使用者の歯磨き習慣をデータベースで構築することでより体系的に管理し、健康相談を可能とさせる。【選択図】図1

Claim (excerpt)：

歯ブラシ面と同一方向で形成された本体部と; 使用者の歯磨き動作に対する信号を検知する少なくとも一つ以上の軸を感知できる動作センサーと二つ以上の歯磨き部位を検知する少なくとも一つ以上の軸を感知できる動作センサーを含む検知部と; 前記検知部から入力される信号を演算し、使用者の歯磨き動作を少なくとも二つ以上のパターンと少なくとも二つ以上の歯磨き部位が区分できる制御部と; を含むこと特徴とする、歯磨きパターン分析校正装置。

IPC (4)：

A46B 15/00 , A46B 17/00 , A47G 1/02 , G06Q 50/00

FI (4)：

A46B15/00 K , A46B17/00 , A47G1/02 J , G06F17/60 126W

F-Term (7)：

3B111AB00 , 3B202AA06 , 3B202CA06 , 3B202GA07 , 3B202GA10 , 3B202GB00 , 3B202GB01

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (9)

ブラッシング方法学習用支援装置及びそれを用いた口腔内衛生装置
Gazette classification：公開公報 Application number：特願2003-393908 Applicant：サンスター株式会社
特許第6786732号
特許第6536068号

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