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J-GLOBAL ID：200903060027027456

撮像装置

Inventor：
本田 努

About 本田 努

, 
前田 利久

About 前田 利久


Applicant, Patent owner：
ミノルタ株式会社

About ミノルタ株式会社


Agent (3)： 吉田 茂明 ,  吉竹 英俊 ,  有田 貴弘
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2002286046
Publication number (International publication number)：2004128584
Application date： Sep. 30, 2002
Publication date： Apr. 22, 2004
Summary：
【課題】装置の大型化を招くことなく、短時間の露光においても撮影時に発生するぶれに対応可能な撮像装置を提供する。【解決手段】CCD2は、受光部2aに蓄積される電荷信号を、受光部2aの画素配列を第1〜第3フィールドに分けて順次に読み出し可能なCCD2である。そして、撮影動作時に、第1フィールドについて、露光時間を2つに分割した期間のうちのそれぞれの期間に蓄積される電荷信号を第1および第2分割画像データとしてそれぞれ読み出す。そして、読み出された2つの画像データを画像比較部47において比較することによって、被写体と撮像装置1Aとの相対的なぶれ量を検出する。【選択図】 図3
Claim (excerpt)：
撮像装置であって、 (a)撮影の際に受光部に蓄積される電荷信号を画像データとして、前記受光部の画素配列を複数のフィールドに分けて順次に読み出し可能な撮像手段と、 (b)前記撮像手段の露光時間を設定する設定手段と、 (c)前記露光時間を複数の期間に分割する分割手段と、 (d)撮影の際に前記複数フィールドのうちの第1のフィールドから、前記複数の期間のうちの2つの期間のそれぞれにおいて前記受光部に蓄積される電荷信号を第1および第2の画像データとして、それぞれ読み出す読み出し手段と、 (e)前記第1および第2の画像データを比較する比較手段と、 (f)前記比較手段による比較結果に基づいて被写体と前記撮像装置との相対的なぶれ量を検出する検出手段と、 を備えることを特徴とする撮像装置。
IPC (5)：
H04N5/232 ,  H04N5/225 ,  H04N5/335 ,  H04N5/907 ,  H04N5/91
FI (5)：
H04N5/232 Z ,  H04N5/225 A ,  H04N5/335 P ,  H04N5/907 B ,  H04N5/91 J
F-Term (37)：
5C022AA13 ,  5C022AB17 ,  5C022AB20 ,  5C022AB55 ,  5C022AC00 ,  5C022AC03 ,  5C022AC13 ,  5C022AC18 ,  5C022AC42 ,  5C022AC69 ,  5C024BX01 ,  5C024CX53 ,  5C024CY22 ,  5C024CY25 ,  5C024CY39 ,  5C024DX01 ,  5C024DX04 ,  5C024GY01 ,  5C024HX17 ,  5C024HX29 ,  5C024HX58 ,  5C024JX14 ,  5C052AA17 ,  5C052DD02 ,  5C052EE08 ,  5C052FA02 ,  5C052FD04 ,  5C052FD11 ,  5C052FE04 ,  5C052GA02 ,  5C052GA06 ,  5C052GE04 ,  5C052GE08 ,  5C053FA08 ,  5C053GB21 ,  5C053KA03 ,  5C053LA01
Patent cited by the Patent：
Cited by examiner (6)
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