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J-GLOBAL ID：200903060140248060

研究開発の環境対応度評価方法及びそのシステム

Inventor： 山口 博司 ,  枝村 孝夫 ,  落合 雄二 ,  小村 英和 ,  伊藤 進
Applicant, Patent owner： 株式会社日立製作所
Agent (1)： 小川 勝男
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1998213720
Publication number (International publication number)：2000048068
Application date： Jul. 29, 1998
Publication date： Feb. 18, 2000
Summary：

【要約】【課題】本発明の課題は、研究開発の環境対応度の評価を定量的に行い、演算処理、表示を行いやすくし、研究開発段階から、対環境性を向上せしめる研究・開発の環境対応度の評価方法及び評価システムを提供することにある。【解決手段】研究開発部門における研究開発の環境対応度を定量的に指標化し、これを表示するものであり、少なくとも材料、プロセス、設備、システムの分野において環境対応度の評点を出し、その和及び又は差により評価がなされる。また、少なくとも材料、プロセス、設備、システムの研究開発分野の研究開発の前後の環境影響度を比較し、研究開発の付加分により評価がなされる。また、環境影響要素として、少なくとも材料M、有害物H、エネルギーE、生産性P、性能A、リサイクルR及び廃棄物Wを数値化し、これら各要素の総合的指標を用いて演算を行い、環境対応度が求められる。

Claim (excerpt)：

研究開発部門における研究開発の環境対応度を定量的に指標化し、これを表示するようになしたことを特徴とする研究開発の環境対応度評価システム。

F-Term (7)：

5B049BB07 ,  5B049CC00 ,  5B049EE01 ,  5B049EE05 ,  5B049FF03 ,  5B049GG07 ,  5B049GG09

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (2)

• 設備環境評価装置
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平8-001620   Applicant：株式会社東芝
• リサイクルの処理方法
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平7-218449   Applicant：株式会社日立製作所