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J-GLOBAL ID:200903060164284709
応力発光材料を用いた応力または応力分布の測定方法と測定システム
Inventor:
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Applicant, Patent owner:
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Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):2000024974
Publication number (International publication number):2001215157
Application date: Feb. 02, 2000
Publication date: Aug. 10, 2001
Summary:
【要約】【課題】 応力発光材料を利用することによって、コードレスで、リアルタイムに直接応力分布を観察できると共に、簡単に応力あるいは応力分布、応力画像を測定できる測定方法及び測定システムを提供する。【解決手段】 材料自体が応力に比例して発光する応力発光材料を含む被験体に応力を加え、該被験体における応力発光材料の発光強度に基づいて該被験体における応力分布を可視化する。被験体における応力発光材料の発光強度を測定し、該測定値と前記応力発光材料の発光強度と応力との相関データとを比較することにより、該被験体における応力または応力分布を求めることができる。
Claim (excerpt):
材料自体が応力に比例して発光する応力発光材料を含む被験体に応力を加え、該被験体における応力発光材料の発光強度に基づいて該被験体における応力分布を可視化することを特徴とする応力発光材料を用いた応力分布の測定方法。
IPC (2):
FI (2):
G01L 1/00 E
, G01L 1/24 Z
Patent cited by the Patent:
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