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J-GLOBAL ID:200903060401930475
ワイヤレスセンサチップを用いる計測システム
Inventor:
,
,
Applicant, Patent owner:
Agent (1):
平木 祐輔
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):2005336899
Publication number (International publication number):2007141131
Application date: Nov. 22, 2005
Publication date: Jun. 07, 2007
Summary:
【課題】遺伝子やタンパク質など生体物質の検査を安価、簡便に行う小型、高感度、低コストの検査装置においてワイヤレスセンサチップ出力の安定性・再現性を向上する手段を提供する。【解決手段】ワイヤレスセンサチップ上に電源電圧監視部170を設け、これによって電源によって生成された電源電圧を監視し、その監視結果をセンサチップの制御論理部130に入力し、そこで監視して得た電源電圧データを送信すると、そのデータを元に補正用データを補正して共振回路制御部160に送る。共振回路制御部はインピーダンス制御部150に制御信号を送ってインピーダンスを調整し、これによって共振点を調整してリーダ・ライタ301から送られる電力を制御して電源電圧の値を一定に保つ。【選択図】図1
Claim (excerpt):
センサチップとリーダ・ライタとを有する計測システムであって、
前記リーダ・ライタは、前記センサチップに対し電力及び制御信号を伝達するための交流電磁場を発生しかつ前記センサチップからのセンサ出力データを受信する第1の送受信部を有し、
前記センサチップは、センサと、前記センサの検出信号を増幅及び2値化する回路と、インピーダンス制御部を有する共振回路を備えていて前記電力を受信しかつ前記センサの検出結果を前記リーダ・ライタに送信する第2の送受信部と、前記インピーダンス制御部のインピーダンスを制御して前記共振回路の共振周波数を変える共振回路制御部と、前記第2の送受信部で生成された電源電圧を監視する電源監視部と、前記電源監視部の出力に基づいて前記共振回路制御部に制御情報を送る制御論理部とを有し、前記制御論理部は、前記電源電圧が所定の範囲に収まるように前記共振回路制御部によって前記インピーダンス制御部のインピーダンスを調整することを特徴とする計測システム。
IPC (7):
G08C 17/00
, G01N 27/00
, G01N 33/53
, G01N 37/00
, G01N 27/416
, G06K 19/07
, G06K 17/00
FI (7):
G08C17/00 Z
, G01N27/00 Z
, G01N33/53 M
, G01N37/00 102
, G01N27/46 353Z
, G06K19/00 H
, G06K17/00 F
F-Term (47):
2F073AA02
, 2F073AA21
, 2F073AB01
, 2F073BB01
, 2F073BC02
, 2F073CC03
, 2F073CC05
, 2F073DD06
, 2F073EE12
, 2F073FF02
, 2F073FF03
, 2F073FG01
, 2F073FG02
, 2F073FG04
, 2F073GG01
, 2F073GG02
, 2F073GG03
, 2F073GG04
, 2F073GG09
, 2G060AA06
, 2G060AC02
, 2G060AE16
, 2G060AF06
, 2G060FA01
, 2G060HA02
, 2G060HB06
, 2G060HC02
, 2G060HC08
, 2G060HC13
, 2G060HC19
, 2G060HC21
, 2G060HC22
, 2G060HD01
, 2G060HD03
, 2G060HE03
, 2G060KA05
, 5B035AA03
, 5B035AA11
, 5B035BB09
, 5B035CA12
, 5B035CA23
, 5B035CA33
, 5B058CA17
, 5B058CA19
, 5B058CA23
, 5B058KA02
, 5B058KA04
Patent cited by the Patent:
Cited by applicant (8)
-
生体および化学試料検査装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願2002-260769
Applicant:株式会社日立製作所
-
情報カードシステム
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平3-318537
Applicant:三菱電機株式会社
-
グルコースの測定方法
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平8-188689
Applicant:有限会社野々川商事
-
非接触ICカード
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平11-343191
Applicant:株式会社日立製作所, 株式会社日立超エル・エス・アイ・システムズ
-
ICカード等搭載用のICチップ
Gazette classification:公開公報
Application number:特願2000-177005
Applicant:株式会社デンソー
-
成形材料および当該成形材料を利用した成形方法
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平11-240872
Applicant:鈴木正一
-
非接触応答装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願2000-252473
Applicant:日本電信電話株式会社
-
非接触ICカード
Gazette classification:公開公報
Application number:特願2001-255481
Applicant:富士通株式会社
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