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J-GLOBAL ID:200903060443718077

充電状態制御方法及び装置

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (1): 足立 勉
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):1998320721
Publication number (International publication number):1999299122
Application date: Nov. 11, 1998
Publication date: Oct. 29, 1999
Summary:
【要約】【課題】 短時間で確実に各セルの充電状態を揃えることが可能な充電状態制御方法及び装置を提供する。【解決手段】 各セルの残存容量を求め、そのうち、最大残存容量Qmax を有するセルを放電すべき対象セルとして設定すると共に、この対象セルが放電後に有すべき目標残存容量Qzとして全セルの残存容量の平均値を設定する。そして目標放電量△Q(=Qmax -Qz)を算出し(S210)、対象セルに放電回路を接続した(S220)後、放電回路に流れる対象セルからの放電電流Ihを測定して、その積算値Qhを算出し、積算値Qhが目標放電量△Qに達すると、対象セルから放電回路を切り放す(S230〜S250)。このように対象セルが目標残存容量Qzに達したか否かの判断を、セルの開回路電圧を実測することなく行っているので、短時間で確実にセルの充電状態を揃えることができる。
Claim (excerpt):
充放電可能な二次電池を単位電池として複数個直列に接続してなり、その両端に負荷や充電器が接続されて充放電される組電池の充電状態を制御する充電状態制御方法であって、前記組電池を構成する各単位電池の残存容量のばらつきが、予め設定された許容範囲内となるように、前記単位電池の残存容量を個別に調整することを特徴とする充電状態制御方法。
IPC (7):
H02J 7/02 ,  B60L 3/00 ,  B60L 11/18 ,  G01R 31/36 ,  H01M 10/44 ,  H02J 7/00 ,  H02J 7/00 302
FI (8):
H02J 7/02 H ,  H02J 7/02 B ,  B60L 3/00 S ,  B60L 11/18 B ,  G01R 31/36 A ,  H01M 10/44 P ,  H02J 7/00 X ,  H02J 7/00 302 C
Patent cited by the Patent:
Cited by examiner (5)
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