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J-GLOBAL ID：200903060515416321

組成分析

Inventor： リューカセン,ヘルハルデュス ダブリュ ,  ピューペルス,ヘルウィン ジェイ ,  カスペルス,ペーテル ジェイ ,  ファン デル フォールト,マルヨーレイン ,  レンデリンク,エフベルト ,  ファン デル マルク,マルティニュス ビー ,  ヘンドリクス,ローベルト エフ エム ,  コーヘン,ユーリウス エス
Applicant, Patent owner： コーニンクレッカ フィリップス エレクトロニクス エヌ ヴィ
Agent (3)： 伊東 忠彦 ,  大貫 進介 ,  伊東 忠重
Gazette classification：公表公報
Application number (International application number)：2002557991
Publication number (International publication number)：2004518125
Application date： Jan. 11, 2002
Publication date： Jun. 17, 2004
Summary：

分析装置、特に分光分析装置は、励起システムと監視システムからなる。励起システムは、励起期間中に励起ビームを放射しターゲット領域を励起する。監視システムは、監視期間中に監視ビームを放射しターゲット領域を画像化する。励起期間と監視期間は実質的に重複している。これにより、ターゲット領域は励起と共に画像化され、ターゲット領域と励起領域の両方を表示する画像が形成される。この画像に基づき、励起ビームを高い精度でターゲット領域に照射することが可能になる。

Claim (excerpt)：

励起ビームを放射して励起期間中ターゲット領域を励起する励起システム;及び 監視ビームを放射して監視期間中前記ターゲット領域を画像化する監視システム; からなる分析装置、特に分光分析装置であって、前記監視期間と前記励起期間は実質的に重複することを特徴とする分析装置。

IPC (3)：

G01N21/65 ,  A61B5/15 ,  A61B10/00

FI (3)：

G01N21/65 ,  A61B10/00 E ,  A61B5/14 300Z

F-Term (23)：

2G043AA03 ,  2G043BA16 ,  2G043EA01 ,  2G043EA03 ,  2G043FA01 ,  2G043FA02 ,  2G043FA06 ,  2G043GA01 ,  2G043GB01 ,  2G043HA01 ,  2G043HA02 ,  2G043HA07 ,  2G043HA08 ,  2G043JA02 ,  2G043KA01 ,  2G043KA02 ,  2G043KA03 ,  2G043KA05 ,  2G043KA09 ,  2G043LA01 ,  2G043LA03 ,  4C038KK10 ,  4C038KX01

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (3)

• レーザ走査型顕微鏡
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平9-283210   Applicant：オリンパス光学工業株式会社
• レーザ走査型顕微鏡
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平11-124737   Applicant：オリンパス光学工業株式会社
• 蛍光顕微鏡
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平8-130250   Applicant：株式会社分子バイオホトニクス研究所