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J-GLOBAL ID:200903060527673966

放射率測定装置

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (1): 羽鳥 修
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):2004286580
Publication number (International publication number):2006098295
Application date: Sep. 30, 2004
Publication date: Apr. 13, 2006
Summary:
【課題】 装置を測定対象物に当接させるだけの簡便な操作によって放射率を測定できると共に、測定対象物の放射率を精度良く測定することのできる放射率測定装置を提供する。【解決手段】 本発明の放射率測定装置10は、赤外光源11から放射エネルギーを入射させる入射穴12と、入射穴12からの入射方向Xと対向して配置され、開口周縁部が測定対象物13に当接される試料用穴14と、放射エネルギーを検出する検出器15が配置される検出穴16とを備える積分球18と、検出器15に接続される演算制御手段19とからなり、検出器15は、積分球18により多重散乱した測定対象物13からの放射エネルギーを検出穴16を介して検出し、演算制御手段19において既知の試料の放射率の測定値と比較して、測定対象物13の放射率を算出する。試料用穴14の開口周縁部に温度補正用の温度センサーが設けられている。【選択図】 図1
Claim (excerpt):
赤外光源から放射エネルギーを入射させる入射穴と、該入射穴からの入射方向と対向して配置され、開口周縁部が測定対象物に当接される試料用穴と、放射エネルギーを検出する検出器が配置される検出穴とを備える積分球と、前記検出器に接続される演算制御手段とからなり、前記検出器は、前記積分球により多重散乱した測定対象物からの放射エネルギーを前記検出穴を介して検出し、前記演算制御手段において既知の試料の放射率の測定値と比較して、測定対象物の放射率を算出する放射率測定装置。
IPC (1):
G01J 5/00
FI (1):
G01J5/00 B
F-Term (9):
2G066AB02 ,  2G066AB08 ,  2G066BA01 ,  2G066BA08 ,  2G066BA60 ,  2G066BC07 ,  2G066BC15 ,  2G066CA11 ,  2G066CA15
Patent cited by the Patent:
Cited by applicant (1) Cited by examiner (4)
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