Pat
J-GLOBAL ID：200903060585674085

MALDI-TOF質量分析装置

Inventor：
竹田 武弘

About 竹田 武弘


Applicant, Patent owner：
株式会社島津製作所

About 株式会社島津製作所


Agent (1)： 小林 良平
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1996166825
Publication number (International publication number)：1997326243
Application date： Jun. 05, 1996
Publication date： Dec. 16, 1997
Summary：
【要約】【課題】 生成するイオンの空間的ばらつきを減少させ、高い分解能で分析を行なうことができるようにする。【解決手段】 パルス状のレーザ光LL照射後、サンプルスライドSS表面で比較的長い時間に亙って生成するイオンをx方向に引き出してイオン方向変換器CD内に入れ、その後、イオンをそれに直交するy方向に引き出して質量分析部TOF-MSに送り込む。イオンはx方向におけるばらつきは大きいが、y方向におけるばらつきは小さいため、質量分析部TOF-MSでは高解像度の質量分析が行なえる。
Claim (excerpt)：
サンプルスライド上に付着させたマトリクスにパルス状のレーザ光を照射することによりマトリクス中に混入された試料をイオン化し、該イオンを所定電圧で加速した後、質量分析部において所定距離を飛行するに要する時間により該イオンの質量分析を行なうマトリクス支援レーザ脱離イオン化飛行時間型(MALDI-TOF)質量分析装置において、a)サンプルスライド表面で生成したイオンを第1の方向に引き出す第1イオンレンズと、b)上記第1の方向に運動するイオンをそれに直交する第2の方向に引き出すための第2イオンレンズと、c)レーザ光の照射タイミング並びに第1及び第2イオンレンズに印加する電圧の大きさ及びタイミングを制御することにより、第1段階において、レーザ光照射により生成したイオンを第1イオンレンズにより第1の方向に引き出し、第2段階において、それらイオンを第2イオンレンズにより第2の方向に引き出して質量分析部に送り込む制御部と、を備えることを特徴とするMALDI-TOF質量分析装置。
IPC (4)：
H01J 49/40 ,  G01N 27/64 ,  H01J 49/10 ,  G01N 27/62
FI (4)：
H01J 49/40 ,  G01N 27/64 B ,  H01J 49/10 ,  G01N 27/62 K
Patent cited by the Patent：
Cited by examiner (5)
  • 特開昭61-195554
  • 特表平6-501130
  • 質量分析方法およびそのための装置
    Gazette classification：公開公報   Application number：特願平5-305323   Applicant：株式会社日立製作所
Show all

Return to Previous Page

TOP

BOTTOM