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J-GLOBAL ID:200903060594122761

測定装置及びその方法

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (1): 田辺 恵基
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):2003308153
Publication number (International publication number):2005073974
Application date: Aug. 29, 2003
Publication date: Mar. 24, 2005
Summary:
【課題】 測定対象の内方における状況をより正確に把握させ得るようにする。【解決手段】 本発明は、放射電界及び誘導電磁界に比して大きい強度の準静電界を発生する準静電界発生手段と、当該発生により人体に印加される準静電界と、当該人体の内方における生体反応により生じる電位変化に応じた電界との相互作用結果を検出する準静電界検出手段と、この相互作用結果から電位変化を抽出する抽出手段とを設けるようにした。【選択図】 図11
Claim (excerpt):
放射電界及び誘導電磁界に比して大きい強度の準静電界を発生する準静電界発生手段と、 上記準静電界発生手段から発生され、測定対象に印加される上記準静電界と、上記測定対象の内方における動的反応により生じる電位変化に応じた電界との相互作用結果を検出する準静電界検出手段と、 上記準静電界検出手段により検出された上記相互作用結果から上記電位変化を抽出する抽出手段と を具えることを特徴とする測定装置。
IPC (1):
A61B5/05
FI (1):
A61B5/05 A
F-Term (2):
4C027AA10 ,  4C027EE01
Patent cited by the Patent:
Cited by applicant (2)
  • 特公平6-53117号公報
  • 特許第3367279号公報
Cited by examiner (3)
  • 電極位置計測装置
    Gazette classification:公開公報   Application number:特願平6-312658   Applicant:日本電気株式会社
  • 特開昭55-002416
  • 電位測定素子
    Gazette classification:公開公報   Application number:特願2002-073238   Applicant:中添淳, 岡崎譲

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