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J-GLOBAL ID:200903060676221032
分析用試料板
Inventor:
Applicant, Patent owner:
,
Agent (1):
岩見谷 周志
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):1992349880
Publication number (International publication number):1994174615
Application date: Dec. 01, 1992
Publication date: Jun. 24, 1994
Summary:
【要約】【構成】表面に置かれた液滴状の液体分析試料を加熱によって濃縮するための分析用試料板であって、平滑表面を有する板状支持体の表面にアモルファスフッ素樹脂薄膜層を設けたことを特徴とする。【効果】分析すべき成分元素を含む試料液滴の濃縮乾固を行なう場合、分析対象となる成分元素の偏析を有効に防止することができ、また分析対象となる成分元素が選択的に有効に濃縮されるため、精度のよい分析を行なうことができる。特に全反射蛍光X線分析等の局部的分析に極めて有用である。
Claim (excerpt):
表面に置かれた液滴状の液体分析試料を加熱によって濃縮するための分析用試料板において、平滑表面を有する板状支持体の表面にフッ素樹脂薄膜層を設けたことを特徴とする分析用試料板。
IPC (3):
G01N 1/28
, G01N 1/10
, G01N 23/223
Patent cited by the Patent: