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J-GLOBAL ID:200903061153382578
物体認識方法
Inventor:
,
Applicant, Patent owner:
Agent (1):
光石 俊郎 (外2名)
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):1996090920
Publication number (International publication number):1997282454
Application date: Apr. 12, 1996
Publication date: Oct. 31, 1997
Summary:
【要約】【課題】 本発明は、「明確な小さな特徴」に注目して完成されたものであり、その目的は、高精度の認識位置姿勢データを効率良く得ることができる物体認識方法を提供することにある。【解決手段】 対象物体の全体について低解像度での一段階目での物体認識処理によって前記対象物体の大体の位置姿勢を求め、その認識結果を基に「明確な小さな特徴」を有する局所認識範囲を設定し、該局所認識範囲についてのみ二段階目での高解像度の物体認識処理を部分的に行い、前記局所認識範囲の認識結果から前記対象物体全体の位置姿勢を計算することを特徴とする。
Claim (excerpt):
対象物体の全体について低解像度での一段階目での物体認識処理によって前記対象物体の大体の位置姿勢を求め、その認識結果を基に「明確な小さな特徴」を有する局所認識範囲を設定し、該局所認識範囲についてのみ二段階目での高解像度の物体認識処理を部分的に行い、前記局所認識範囲の認識結果から前記対象物体全体の位置姿勢を計算することを特徴とする物体認識方法。
FI (2):
G06F 15/70 460 E
, G06F 15/62 415
Patent cited by the Patent:
Cited by examiner (10)
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特開昭59-211167
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画像処理装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平5-270977
Applicant:三菱電機株式会社
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画像処理装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平6-230564
Applicant:オムロン株式会社
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画像処理装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平4-076370
Applicant:大日本スクリーン製造株式会社
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画像認識方法及びその装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平6-057924
Applicant:株式会社明電舎
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特開昭60-204086
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特開平1-287787
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印鑑照合装置および2物体画像の角度位置合わせ装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平6-068802
Applicant:三洋電機株式会社
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円中心位置計測方法
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平4-196953
Applicant:松下電器産業株式会社
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金属蒸着フィルムのマージン寸法測定装置
Gazette classification:公開公報
Application number:特願平5-267623
Applicant:三菱伸銅株式会社
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