粒度分布計測方法

Inventor： ,
Applicant, Patent owner：
Agent (1)：池浦敏明
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2002276510
Publication number (International publication number)：2004117005
Application date： Sep. 24, 2002
Publication date： Apr. 15, 2004
Summary：

【課題】サンプリングされる粉体の濃度が安定して得られ、粒径測定が良好に行なわれる、オンライン方式の粒度分布測定方法を提供する。【解決手段】粉体を輸送中の配管から直接サンプリングし、レーザー回折光散乱方式により、粒度分布を測定する方法において、サンプリングするノズルの先端の手前に分散部材を設けて、該ノズルと該分散部材との間の該配管中の粉体濃度を均一にすることを特徴とする粒度分布計測方法。【選択図】図4

Claim (excerpt)：

粉体を輸送中の配管から直接サンプリングし、レーザー回折光散乱方式により、粒度分布を測定する方法において、サンプリングするノズルの先端の手前に分散部材を設けて、該ノズルと該分散部材との間の該配管中の粉体濃度を均一にすることを特徴とする粒度分布計測方法。

IPC (3)：

G01N15/02 , G01N15/00 , G01N15/14

FI (3)：

G01N15/02 A , G01N15/00 C , G01N15/14 A

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (4)

インライン粒度測定機用サンプリングシステム
Gazette classification：公開公報 Application number：特願2000-119675 Applicant：住金物産インテック株式会社
微粒子濃度測定装置
Gazette classification：公開公報 Application number：特願平7-062671 Applicant：三田工業株式会社
粒度分布測定装置
Gazette classification：公開公報 Application number：特願平6-089425 Applicant：株式会社島津製作所

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