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J-GLOBAL ID:200903061444758532

ダイオキシン類分析方法及び装置

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (1): 光石 俊郎 (外2名)
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):1999326444
Publication number (International publication number):2001141697
Application date: Nov. 17, 1999
Publication date: May. 25, 2001
Summary:
【要約】【課題】 埋立地侵出水や産業排水等中の例えば有機ハロゲン系化合物などのような有害物質の濃度を測定するダイオキシン類分析方法及び装置を提供することを課題とする。【解決手段】 容器11内の被測定溶液12の表面にレーザ光13を照射するレーザ装置14と、上部容器11内の被測定溶液12の表面に対向して設けられた対電極15と、該対電極15と容器との間に高圧を印加する高圧電源16と、得られた電流信号を増幅する増幅器17aと、該増幅器のアナログ信号をディジタル信号に変換するA/D変換器17bと、信号を映像処理するモニタ17cとからなるデータ処理手段17とを具備してなるものであり、この装置10を用いて、被測定溶液12の表面にレーザ光13を照射し、表面のダイオキシン類をレーザ多光子イオン化し、被測定溶液中のダイオキシン類濃度を測定する。
Claim (excerpt):
被測定溶液の表面にレーザ光を照射し、表面のダイオキシン類をレーザ多光子イオン化し、被測定溶液中のダイオキシン類濃度を測定することを特徴とするダイオキシン類分析方法。
Patent cited by the Patent:
Cited by examiner (3)

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