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J-GLOBAL ID：200903061734653173

非破壊検査方法

Inventor： 土屋 憲一郎
Applicant, Patent owner： JFE工建株式会社
Agent (1)： 石川 泰男
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2003403395
Publication number (International publication number)：2005164386
Application date： Dec. 02, 2003
Publication date： Jun. 23, 2005
Summary：

【課題】 超音波探傷により被検査体に欠陥が有るか否かを確認すると共に、欠陥の形態をも正確に把握する。【解決手段】 被検査体に超音波を入射し、これを検出して、検出された超音波に基づいて前記被検査体に欠陥が有るか否かを判定する欠陥有無判定工程と、前記欠陥有無判定工程にて欠陥が有ると判定された場合に、前記被検査体に超音波を入射し、これを検出して、検出された前記超音波に基き前記欠陥の形態を測定する形態測定工程とを備え、前記欠陥有無判定工程では、前記被検査体の表面を伝播する疎密超音波と前記被検査体の表面に対して斜めに傾けられた方向に進行する疎密超音波とが一つの入射探触子から入射されるクリーピング探傷工程を少なくとも含む。【選択図】 図1

Claim (excerpt)：

被検査体に超音波を入射せしめ、前記被検査体を伝播した前記超音波を検出して、検出された前記超音波に基づいて、前記被検査体に欠陥が有るか否かを判定する欠陥有無判定工程と、 前記欠陥有無判定工程にて欠陥が有ると判定された場合に、更に、前記被検査体に超音波を入射せしめ、前記被検査体を伝播した前記超音波を検出して、検出された前記超音波に基づいて、前記欠陥の形態を測定する形態測定工程とを備え、 前記欠陥有無判定工程では、前記被検査体の表面を伝播する疎密超音波と前記被検査体の表面に対して斜めに傾けられた方向に進行する疎密超音波とが一つの入射探触子から入射されるクリーピング探傷工程を少なくとも含んでいることを特徴とする非破壊検査方法。

IPC (2)：

G01N29/22 ,  G01N29/10

FI (2)：

G01N29/22 504 ,  G01N29/10 501

F-Term (11)：

2G047AA07 ,  2G047AB07 ,  2G047BB01 ,  2G047BB02 ,  2G047BC02 ,  2G047BC07 ,  2G047BC10 ,  2G047EA10 ,  2G047GA13 ,  2G047GB24 ,  2G047GF18

Patent cited by the Patent：

Cited by applicant (1)

• 超音波探傷方法及び装置
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願2000-336782   Applicant：石川島播磨重工業株式会社