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J-GLOBAL ID:200903061735774063

二次電池の短絡検査方法および当該検査方法を包含する二次電池の製造方法

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (1): 岡田 数彦
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):1998213520
Publication number (International publication number):2000030763
Application date: Jul. 13, 1998
Publication date: Jan. 28, 2000
Summary:
【要約】【課題】電極および電解質を備えて電池として機能する電池素子に対して適用でき、簡単で検査の作業能率が高く、しかも、信頼性が高い、二次電池の短絡検査方法を提供する。【解決手段】正極および負極とそれらをイオン的に結合する電解質とを備えた二次電池の電極間の短絡を検査する方法であって、初回充電前の二次電池の電極間に交流信号を印加してそのインピーダンスを測定することにより短絡の有無を検査する。
Claim (excerpt):
正極および負極とそれらをイオン的に結合する電解質とを備えた二次電池の電極間の短絡を検査する方法であって、初回充電前の二次電池の電極間に交流信号を印加してそのインピーダンスを測定することにより短絡の有無を検査することを特徴とする二次電池の短絡検査方法。
IPC (3):
H01M 10/48 ,  G01R 31/36 ,  H01M 10/40
FI (3):
H01M 10/48 P ,  G01R 31/36 A ,  H01M 10/40 B
F-Term (21):
2G016CA00 ,  2G016CB00 ,  2G016CB05 ,  2G016CC01 ,  5H029AJ12 ,  5H029AK02 ,  5H029AK03 ,  5H029AK05 ,  5H029AK15 ,  5H029AL02 ,  5H029AL06 ,  5H029AL11 ,  5H029AM02 ,  5H029AM07 ,  5H029DJ08 ,  5H029EJ11 ,  5H030AA06 ,  5H030AA10 ,  5H030AS11 ,  5H030FF41 ,  5H030FF51
Patent cited by the Patent:
Cited by examiner (1)

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