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J-GLOBAL ID：200903061739297723

磁気光学探傷方法及びその装置

Inventor： 春名 和幸 ,  石原 道章
Applicant, Patent owner： 住友金属工業株式会社
Agent (1)： 河野 登夫
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1992359460
Publication number (International publication number)：1994201654
Application date： Dec. 26, 1992
Publication date： Jul. 22, 1994
Summary：

【要約】【目的】 高速全面探傷を可能とする磁気光学探傷方法及びその実施に使用する装置を提供する。【構成】 丸棒鋼Kの近傍に磁気光学素子列3が、その長手方向を丸棒鋼Kの軸方向に相当させて配置されており、レーザー4から照射された光のビーム形状を、シリンドリカルレンズ5にて素子短軸方向にスリット状にし、ビームエキスパンダ6にて拡大して磁気光学素子列3へ一様に照射するようになしてある。その反射光は検光子7によりその偏光面の回転量を検出し、イメージインテンシファイア8により増幅した後CCDカメラ9で撮像し、その信号は高速画像処理装置10へ与えるようになしてある。さらに丸棒鋼Kを磁化する交流電源2の周波数にレーザー4の光強度変調期間を同期させる移相器13と、交流電源2の周波数にCCDカメラ9の出力を同期させる移相器14とを備える。

Claim (excerpt)：

鋼材を磁化し、該鋼材の表面近傍に設置された磁気光学素子列に光ビームを照射し、前記表面に存在する疵により形成される漏洩磁場による前記磁気光学素子列からの反射光の変化を検出して探傷を行う方法において、前記鋼材を交流磁化し、前記光ビームの照射期間、及び/又は前記反射光の検出期間と交流磁化電流の周波数とを同期させることを特徴とする磁気光学探傷方法。

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (1)

• 磁気光学式欠陥検出方法
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平4-071994   Applicant：新日本製鐵株式会社