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J-GLOBAL ID：200903061865448257

X線撮像装置および方法

Inventor：
桜井 健次

About 桜井 健次

, 
江場 宏美

About 江場 宏美


Applicant, Patent owner：
独立行政法人物質・材料研究機構

About 独立行政法人物質・材料研究機構


Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2002138834
Publication number (International publication number)：2003329622
Application date： May. 14, 2002
Publication date： Nov. 19, 2003
Summary：
【要約】【課題】 蛍光X線動画像として、物質の表面における元素の分布または組成の経時変化を、表示または記録することを可能とするX線撮像装置および方法を提供する。【解決手段】 X線、粒子線、またはイオンビームのいずれかのビームを物質(2)の表面に照射するためのビーム照射手段(1)と、X線領域の波長に対して感度を有する撮像手段(4)と、撮像手段に入射するX線の角度発散を制御するための角度発散制限手段(5)と、撮像手段(4)で撮像されるX線画像を表示するためのX線画像表示手段(6)と、からなるX線撮像装置であって、前記撮像手段において前記ビームが物質に照射されることで発生する蛍光X線および散乱X線(3)を撮像し、撮像された画像をX線画像表示手段(6)に動画像として表示する。
Claim (excerpt)：
X線、粒子線、またはイオンビームのいずれかのビームを物質の表面に照射するためのビーム照射手段と、X線領域の波長に対して感度を有する撮像手段と、撮像手段に入射するX線の角度発散を制御するための角度発散制限手段と、撮像手段で撮像されるX線画像を表示するためのX線画像表示手段と、からなるX線撮像装置であって、前記撮像手段において前記ビームが物質に照射されることで発生する蛍光X線および散乱X線を撮像し、撮像された画像をX線画像表示手段に動画像として表示することを特徴とするX線撮像装置。
IPC (5)：
G01N 23/223 ,  G01N 23/20 ,  G01T 1/00 ,  G01T 7/00 ,  G21K 1/02
FI (5)：
G01N 23/223 ,  G01N 23/20 ,  G01T 1/00 B ,  G01T 7/00 B ,  G21K 1/02 G
F-Term (26)：
2G001AA01 ,  2G001AA03 ,  2G001AA05 ,  2G001AA09 ,  2G001AA10 ,  2G001BA04 ,  2G001BA14 ,  2G001CA01 ,  2G001DA01 ,  2G001DA02 ,  2G001DA09 ,  2G001FA06 ,  2G001GA03 ,  2G001GA07 ,  2G001HA12 ,  2G001HA13 ,  2G001KA20 ,  2G001NA13 ,  2G001NA17 ,  2G001SA02 ,  2G001SA30 ,  2G088EE30 ,  2G088FF02 ,  2G088FF03 ,  2G088JJ05 ,  2G088JJ13
Patent cited by the Patent：
Cited by examiner (1)

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