電波式変位計測装置

Inventor： , , , ,
Applicant, Patent owner： ,
Agent (2)：須藤阿佐子 , 須藤晃伸
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2006071596
Publication number (International publication number)：2007248245
Application date： Mar. 15, 2006
Publication date： Sep. 27, 2007
Summary：

【課題】数mないし数百mの距離にある対象物の変位を、電波の振幅情報を利用せずにミリ分解能の精度で計測する方法および装置の提供。【解決手段】高周波発振器で発生させた電波を反射手段に放射し、反射された反射波を受信手段により受信する第1の工程、第1の工程で受信した反射波を高周波発振器に送信して引き込み現象を発生させる第2の工程、高周波発振器の周波数の変化に基づき高周波発振器と反射手段の距離変位を算出する第3の工程からなる電波式変位計測方法および装置。【選択図】図1

Claim (excerpt)：

高周波発振器で発生させた電波を反射手段に放射し、反射された反射波を受信手段により受信する第1の工程、第1の工程で受信した反射波を高周波発振器に送信して引き込み現象を発生させる第2の工程、高周波発振器の周波数の変化に基づき高周波発振器と反射手段の距離変位を算出する第3の工程からなる電波式変位計測方法。

IPC (3)：

G01S 13/40 , G01S 7/28 , G01S 7/03

FI (3)：

G01S13/40 , G01S7/28 B , G01S7/03 A

F-Term (7)：

5J070AB15 , 5J070AC16 , 5J070AD02 , 5J070AD16 , 5J070AF01 , 5J070AH23 , 5J070AK22

Patent cited by the Patent：

Cited by applicant (13)

地表層変位検出装置
Gazette classification：公開公報 Application number：特願平10-121432 Applicant：横河電子機器株式会社
距離測定装置、距離測定設備および距離測定方法
Gazette classification：公開公報 Application number：特願2001-237280 Applicant：上保徹志, 入谷忠光
距離測定方法、及びそれを適用した距離測定装置、並びにそれを適用した距離測定設備
Gazette classification：公開公報 Application number：特願2003-115936 Applicant：NECアクセステクニカ株式会社, 入谷忠光, 上保徹志

Show all

Cited by examiner (10)

測距センサ
Gazette classification：公開公報 Application number：特願2003-397512 Applicant：アイシン精機株式会社
近接センサ
Gazette classification：公開公報 Application number：特願2003-370556 Applicant：アイシン精機株式会社
特開平4-052586

Show all

Return to Previous Page