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J-GLOBAL ID：200903062249884244

米穀品質測定装置

Inventor： 杉山 隆夫 ,  市川 友彦 ,  牧野 英二 ,  久保田 興太郎 ,  柏嵜 勝 ,  上谷 弘践 ,  藤岡 定和 ,  清水 昭佳 ,  松下 和樹 ,  渡辺 利通 ,  藁科 二郎 ,  川中 道夫
Applicant, Patent owner： 生物系特定産業技術研究推進機構 ,  井関農機株式会社 ,  株式会社クボタ ,  株式会社ケット科学研究所 ,  静岡製機株式会社
Agent (1)： 林 孝吉
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1995014610
Publication number (International publication number)：1996201300
Application date： Jan. 31, 1995
Publication date： Aug. 09, 1996
Summary：

【要約】【目的】 米穀の外観的品質と内部的品質とを測定するとともに、作柄の良否によって内部的品質を適正に評価する。【構成】 サンプル米の外観品位測定手段16と内部品質測定手段17とを設ける。制御手段27には補正手段41が設けられ、外観品位測定手段16の測定結果に基づいて、該補正手段41により内部品質測定手段17によって得られた内部品質評価値を補正する。

Claim (excerpt)：

サンプル米の食味評価値、粘り値、硬さ度等の内部的品質を測定する内部品質測定手段を設けるとともに、整粒割合や未熟粒割合等の外観的品質を測定する外観品位測定手段を設け、前記外観品位測定手段の測定結果に基づいて内部品質測定手段によって得られた品質評価値を補正する補正手段を設けたことを特徴とする米穀品質測定装置。

IPC (2)：

G01N 21/85 ,  G01N 21/31

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (2)

• 米の食味分析装置
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平5-059786   Applicant：井関農機株式会社
• 籾米の品質判定方法
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平3-323666   Applicant：静岡製機株式会社