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J-GLOBAL ID:200903062280818446

分光光度計

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (1): 西岡 義明
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):2000003888
Publication number (International publication number):2001194294
Application date: Jan. 12, 2000
Publication date: Jul. 19, 2001
Summary:
【要約】【課題】 被測定試料の温度を所定の温度に短時間で到達させ、各試料セル間の温度むらを最小限に抑え、所定の温度で長時間安定に保持できる分光光度計を提供する。【解決手段】 試料室1において、セルブロック3のみならず外気遮断用蓋5にもパイプ7、8を配管し、パイプ7、8内に所定の温度で制御された循環用媒体を循環させることにより、被測定試料への熱伝達を向上させ、被測定試料からの熱放射を最小限にすることができる。これにより、被測定試料の温度を短時間で所定の温度に到達させ、それぞれの試料セル2間の温度むらを最小限に抑えることができ、さらに所定の温度で長時間安定に制御することが可能となる。
Claim (excerpt):
被測定試料を充填する多連続形の試料セルと、試料セルを外気から遮断し被測定試料に光源からの測定光を入射させる光路窓を有する外気遮断用蓋と、試料セルを保持するセルブロックとを備え、セルブロックおよび外気遮断用蓋に温度制御用媒体を循環させる循環系を設けたことを特徴とする分光光度計。
IPC (6):
G01N 21/03 ,  G01N 1/00 101 ,  G01N 1/28 ,  G01N 21/01 ,  G01N 21/17 ,  G01N 30/74
FI (6):
G01N 21/03 Z ,  G01N 1/00 101 H ,  G01N 21/01 C ,  G01N 21/17 D ,  G01N 30/74 E ,  G01N 1/28 K
F-Term (16):
2G057AA01 ,  2G057AC01 ,  2G057BA01 ,  2G057EA03 ,  2G057EA06 ,  2G057EA07 ,  2G057EA08 ,  2G057HA07 ,  2G057HA09 ,  2G059AA01 ,  2G059BB04 ,  2G059DD15 ,  2G059EE01 ,  2G059EE12 ,  2G059FF11 ,  2G059NN02
Patent cited by the Patent:
Cited by applicant (3)
  • 温調式試料ホルダ
    Gazette classification:公開公報   Application number:特願平9-174105   Applicant:株式会社島津製作所
  • 自動化学分析装置
    Gazette classification:公開公報   Application number:特願平8-052883   Applicant:株式会社日立製作所
  • 特開平2-259547
Cited by examiner (3)
  • 温調式試料ホルダ
    Gazette classification:公開公報   Application number:特願平9-174105   Applicant:株式会社島津製作所
  • 自動化学分析装置
    Gazette classification:公開公報   Application number:特願平8-052883   Applicant:株式会社日立製作所
  • 特開平2-259547

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