広域濁度分布の計測方法およびその装置

Inventor：
Applicant, Patent owner：
Agent (1)：杉山泰三
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2001129835
Publication number (International publication number)：2002323436
Application date： Apr. 26, 2001
Publication date： Nov. 08, 2002
Summary：

【要約】【課題】計測レンジの異なる複数の濁度センサとコンピュータを用いて広い範囲に亘る濁度(懸濁物の濃度)を計測できるようにした新規の広域濁度分布の計測方法およびその装置を提供する。【解決手段】低濁度分布域計測用濁度センサと高濁度分布域計測用濁度センサをモータ駆動ワイヤー等昇降装置により下降もしくは上昇させ、低濁度分布域下降中もしくは上昇中では低濁度分布域計測用濁度センサにより低濁度分布域データをまた高濁度分布域下降中もしくは上昇中では高濁度分布域計測用濁度センサにより高濁度分布域データを、低濁度分布域データにおける深い方のデータと高濁度分布域データにおける浅い方のデータがオーバーラップする状態となしてそれぞれ計測すると共に当該オーバーラップした両部分のデータをコンピュータ処理して合成データを構成し、この合成データを介して連続した低濁度から高濁度までの濁度分布広域データを得るようにしたものである。

Claim (excerpt)：

低濁度分布域計測用濁度センサと高濁度分布域計測用濁度センサをモータ駆動ワイヤー等昇降装置により下降もしくは上昇させ、低濁度分布域下降中もしくは上昇中では低濁度分布域計測用濁度センサにより低濁度分布域データをまた高濁度分布域下降中もしくは上昇中では高濁度分布域計測用濁度センサにより高濁度分布域データを、低濁度分布域データにおける深い方のデータと高濁度分布域データにおける浅い方のデータがオーバーラップする状態となしてそれぞれ計測すると共に当該オーバーラップした両部分のデータをコンピュータ処理して合成データを構成し、この合成データを介して連続した低濁度から高濁度までの濁度分布広域データを得ることを特徴とする広域濁度分布の計測方法。

IPC (2)：

G01N 15/06 , G01N 29/02

FI (2)：

G01N 15/06 E , G01N 29/02

F-Term (5)：

2G047AA02 , 2G047GA13 , 2G047GA18 , 2G047GG16 , 2G047GJ02

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (4)

特許第2745267号
X線反射率解析装置
Gazette classification：公開公報 Application number：特願平6-106443 Applicant：株式会社日立製作所, 理学電機株式会社
粒子画像分析装置
Gazette classification：公開公報 Application number：特願平6-271453 Applicant：東亜医用電子株式会社

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