蛍光分析装置を用いた架橋ポリエチレンの劣化診断方法

Inventor： ,
Applicant, Patent owner：
Agent (1)：須山佐一
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1999049123
Publication number (International publication number)：2000241351
Application date： Feb. 25, 1999
Publication date： Sep. 08, 2000
Summary：

【要約】【課題】架橋ポリエチレン材料が被覆された電線・ケーブルの経年劣化を容易にかつ精度よく診断することができる劣化診断方法を提供する。【解決手段】被試験体としての架橋ポリエチレン材料の蛍光スペクトルを測定し、これらの蛍光スペクトルの蛍光強度と、予め求めておいたその材料の劣化前の試料の蛍光スペクトルの同一波長における蛍光強度を比較することにより測定試料の劣化度を診断する。

Claim (excerpt)：

種々の劣化因子を受けた架橋ポリエチレンからなる材料を蛍光分光装置を用いて蛍光スペクトルを測定し、その蛍光強度と予め求めておいて劣化前の架橋ポリエチレンと特定波長における強度と比較することにより、前記架橋ポリエチレン材料の劣化度を診断することを特徴とする架橋ポリエチレン材料の劣化診断方法。

IPC (3)：

G01N 21/64 , G01N 17/00 , G01N 33/44

FI (3)：

G01N 21/64 Z , G01N 17/00 , G01N 33/44

F-Term (26)：

2G043AA03 , 2G043BA14 , 2G043CA05 , 2G043DA04 , 2G043DA08 , 2G043EA01 , 2G043FA03 , 2G043GA07 , 2G043GA21 , 2G043GB07 , 2G043GB21 , 2G043GB28 , 2G043KA05 , 2G043LA01 , 2G043NA11 , 2G050AA02 , 2G050AA04 , 2G050BA09 , 2G050BA10 , 2G050BA20 , 2G050CA01 , 2G050DA01 , 2G050EA01 , 2G050EA03 , 2G050EA10 , 2G050EB07

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (1)

蛍光を用いたポリマー材料の劣化診断方法
Gazette classification：公開公報 Application number：特願平6-055651 Applicant：社団法人電線総合技術センター

Article cited by the Patent：

Cited by examiner (1)

Fluorescence of Polyolefins-I. Effect of Thermal Degradation on Fluorescent Excitation and Emission

Return to Previous Page