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J-GLOBAL ID：200903062709401085
パターン検査装置
Inventor：
Applicant, Patent owner：
Agent (1)：
鈴江 武彦
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1994300824
Publication number (International publication number)：1996159985
Application date： Dec. 05, 1994
Publication date： Jun. 21, 1996
Summary：
【要約】【目的】印刷物上に高精細に印刷された繰返し文字列のパターン検査を高速かつ高精度に行なうことができるパターン検査装置を提供する。【構成】画像入力部301によって、印刷物P上に高精細に印刷されている繰返し文字列を含む画像を入力し、A/D変換部304でデジタル化した後、フレームメモリ306に一時記憶する。CPU308は、プログラムメモリ309内のプログラムに基づき動作し、フレームメモリ306内の画像を基に、上記繰返し文字列の単位文字列ごとの画像を検出し、この検出した各単位文字列画像のうちの1つの単位文字列画像を基準画像パターンとして、残りの単位文字列画像とのパターンマッチング処理を行ない、このパターンマッチング処理の処理結果を基に上記繰返し文字列のパターン欠陥を判定する。そして、このパターン欠陥の判定結果を出力装置307によって出力する。
Claim (excerpt)：
同一文字列が繰返して構成されている繰返し文字列が印刷されている印刷物上の前記繰返し文字列を含む画像を入力する画像入力手段と、この画像入力手段によって入力された画像を基に、前記繰返し文字列の単位文字列ごとの画像を検出する単位文字列検出手段と、この単位文字列検出手段によって検出された各単位文字列画像のうちの1つの単位文字列画像を基準画像パターンとして、残りの単位文字列画像とのパターンマッチング処理を行なうパターンマッチング手段と、このパターンマッチング手段の処理結果を基に前記繰返し文字列のパターン欠陥を判定するパターン欠陥判定手段と、このパターン欠陥判定手段によって得られた判定結果を出力する判定結果出力手段と、を具備したことを特徴とするパターン検査装置。
IPC (3)：
G01N 21/89
, B41F 33/14
, G06T 7/00
B41F 33/14 G
, G06F 15/62 410 A
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