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J-GLOBAL ID:200903063427650410

プラント設備点検装置およびプラント設備点検システム

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (1): 田澤 博昭 (外2名)
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):1996075021
Publication number (International publication number):1997265316
Application date: Mar. 28, 1996
Publication date: Oct. 07, 1997
Summary:
【要約】【課題】 各センサから個別に得られた測定データのみで点検箇所の状態を判定するのみで、複数のセンサを相互に補償させ総合的で高確信度な状態判定ができなかった。【解決手段】 プラントの点検箇所の状態を検知する複数のセンサと、センサからの信号を処理し、必要ならば複数のセンサのいずれかを選択して再度詳細に点検箇所の状態を独自に判断して検知させる信号処理装置を備えた。
Claim (excerpt):
プラント内の複数の設備機器を含む点検箇所の状態をセンシングする複数のセンサ手段と、前記センサ手段からの信号を処理し、前記信号の状態に基づいて複数のセンサ手段のいずれかを選択して前記点検箇所の状態を再度センシングさせる信号処理手段とを備えたプラント設備点検装置。
IPC (5):
G05B 23/02 ,  G05B 23/02 302 ,  G01D 21/00 ,  G06F 3/14 320 ,  G08C 25/00
FI (5):
G05B 23/02 V ,  G05B 23/02 302 Z ,  G01D 21/00 Q ,  G06F 3/14 320 C ,  G08C 25/00 A
Patent cited by the Patent:
Cited by examiner (5)
  • プラント異常点検装置
    Gazette classification:公開公報   Application number:特願平4-102495   Applicant:三菱電機株式会社
  • 特開平4-324787
  • 移動測定装置
    Gazette classification:公開公報   Application number:特願平4-266141   Applicant:株式会社東芝
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