Pat
J-GLOBAL ID:200903063737561272

質量分析装置

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (1): 作田 康夫
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):2000123686
Publication number (International publication number):2001307675
Application date: Apr. 19, 2000
Publication date: Nov. 02, 2001
Summary:
【要約】 (修正有)【課題】 イオンが四重極イオントラップに導入されるタイミングにより、イオンがトラップされる効率が変動し、この効率は四重極イオントラップに印加される高周波電圧の位相に依存している。さらに、トラッピング効率は入射するイオンの運動エネルギーにも依存する。そのため、定常的にイオン導入を行えば、イオンの平均的なトラッピング効率は低く、装置の高感度化が困難であるという課題がある。【解決手段】 パルス電圧が印加されるイオン輸送部と四重極イオントラップとから構成される質量分析装置が提供される。
Claim (excerpt):
イオンを生成するイオン生成部と、生成されたイオンを輸送する第一の電極を有するイオン輸送部と、輸送されたイオンを第二の電極を有する質量分離するための四重極イオントラップ質量分析部と、前記四重極イオントラップ質量分析部の前記第二の電極に高周波電圧を印加する第二の電源と、前記第二の電源から前記イオン輸送部の前記第一の電極に印加する電圧のタイミングを含んで電圧を印加する第一の電源を有することを特徴とする質量分析装置。
IPC (2):
H01J 49/42 ,  G01N 27/62
FI (3):
H01J 49/42 ,  G01N 27/62 L ,  G01N 27/62 E
F-Term (4):
5C038JJ02 ,  5C038JJ05 ,  5C038JJ06 ,  5C038JJ07
Patent cited by the Patent:
Cited by examiner (2)

Return to Previous Page