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J-GLOBAL ID：200903063964028700

3次元形状測定システム、及び、3次元形状測定方法

Inventor：
小船井 克夫

About 小船井 克夫


Applicant, Patent owner：
株式会社ブリヂストン

About 株式会社ブリヂストン


Agent (4)： 中島 淳 ,  加藤 和詳 ,  西元 勝一 ,  福田 浩志
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2007164888
Publication number (International publication number)：2009002831
Application date： Jun. 22, 2007
Publication date： Jan. 08, 2009
Summary：
【課題】被計測体が転動しているか否かに関わらず、撮影装置を短時間で容易に設定して被計測体同士W89を測定することができる3次元形状測定システム、及び、3次元形状測定方法を提供することを課題とする。【解決手段】タイヤリム組立体13の表面に複数のマーカー12を配置する。そして、各マーカー12が配置されている領域Qに、赤、緑、青の三色の照明光を照射するとともに赤色光及び青色光の光量をタイヤ側面に沿った水平方向に変化させて照射しつつ、領域Qをビデオカメラ16、18で撮影し、ビデオカメラ16、18で撮影された画像データを演算処理することにより、ビデオカメラ16、18の設置位置を調整するとともに、光量の空間的な変化に基づく座標のマッチングを行いつつ各マーカー12の3次元座標を算出する。【選択図】図1
Claim (excerpt)：
被計測体の表面に複数のマーカーを配置して前記被計測体の3次元形状を計測するシステムであって、 各マーカーが配置されている領域を撮影する2台の撮影装置と、 光量が一定で、2台の前記撮影装置を結ぶ直線方向に色の成分比を変化させて前記被計測体に照射する照明装置と、 前記撮影装置で撮影された画像データを演算処理することにより、色の成分比の変化に基づく座標のマッチングを行いつつ各マーカーの3次元座標を算出する演算処理手段と、 前記演算処理手段で算出された前記3次元座標に基づいて、前記被計測体の少なくとも一部の形状を表示する表示手段と、 を備えたことを特徴とする3次元形状測定システム。
IPC (2)：
G01B 11/245 ,  G06T 1/00
FI (2)：
G01B11/245 H ,  G06T1/00 315
F-Term (38)：
2F065AA04 ,  2F065AA32 ,  2F065AA53 ,  2F065BB27 ,  2F065CC13 ,  2F065FF04 ,  2F065FF42 ,  2F065GG23 ,  2F065JJ03 ,  2F065JJ05 ,  2F065NN02 ,  2F065QQ18 ,  2F065SS02 ,  2F065SS13 ,  5B057AA01 ,  5B057AA20 ,  5B057CA01 ,  5B057CA08 ,  5B057CA13 ,  5B057CA16 ,  5B057CB01 ,  5B057CB08 ,  5B057CB13 ,  5B057CB16 ,  5B057CC02 ,  5B057CE16 ,  5B057DA08 ,  5B057DA13 ,  5B057DA16 ,  5B057DB03 ,  5B057DB06 ,  5B057DB09 ,  5B057DC05 ,  5B057DC08 ,  5B057DC09 ,  5B057DC25 ,  5B057DC32 ,  5B057DC36
Patent cited by the Patent：
Cited by applicant (5)
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Cited by examiner (5)
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