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J-GLOBAL ID:200903064218405162

絶縁性検証システム、検証プログラム及び検証方法

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (2): 西山 恵三 ,  内尾 裕一
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):2003170824
Publication number (International publication number):2005010835
Application date: Jun. 16, 2003
Publication date: Jan. 13, 2005
Summary:
【課題】製品開発や製品設計の時間の短縮を得ることの可能な絶縁性検証システムを提供する。【解決手段】複数の部材で構成され、所定の部品間に電位差が生じる装置を構成する部材の形状情報、各部材の組み付け情報、各部材への電圧印加情報及び各部材の構成材料に関係する情報を取得する手段と、電位差によって決められた絶縁距離の情報を抽出するための抽出手段と、前記部材の形状情報及び組み付け情報に基づいて各部材の接続関係を認識する手段と、前記各部材の接続関係、前記各部材変電圧印加情報及び前記各部材の構成材料に関係する情報から電圧系統を認識する手段と、各電圧系統間の沿面距離を求める手段と、求められた該沿面距離と各電圧系統間の電位差から前記抽出手段によって抽出された前記電位差によって決められた絶縁距離とを比較する手段と、を有することを特徴とする絶縁距離検証システム。【選択図】 図1
Claim (excerpt):
複数の部材で構成され、所定の部品間に電位差が生じる装置を構成する部材の形状情報、各部材の組み付け情報、各部材への電圧印加情報及び各部材の構成材料に関係する情報を取得する手段と、 電位差によって決められた絶縁距離の情報を抽出するための抽出手段と、 前記部材の形状情報及び組み付け情報に基づいて各部材の接続関係を認識する手段と、 前記各部材の接続関係、前記各部材変電圧印加情報及び前記各部材の構成材料に関係する情報から電圧系統を認識する手段と、 各電圧系統間の沿面距離を求める手段と、 求められた該沿面距離と各電圧系統間の電位差から前記抽出手段によって抽出された前記電位差によって決められた絶縁距離とを比較する手段と、 を有することを特徴とする絶縁距離検証システム。
IPC (1):
G06F17/50
FI (2):
G06F17/50 612Z ,  G06F17/50 612C
F-Term (2):
5B046AA07 ,  5B046JA01
Patent cited by the Patent:
Cited by applicant (3) Cited by examiner (3)
Article cited by the Patent:
Cited by applicant (2) Cited by examiner (2)

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