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J-GLOBAL ID：200903064460134130

光部品自動測定装置

Inventor： 伊藤 良久 ,  頼成 洋 ,  川添 英世 ,  千田 和憲 ,  花房 廣明
Applicant, Patent owner： 古河電気工業株式会社 ,  日本電信電話株式会社
Agent (1)： 小林 正治
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：1993180902
Publication number (International publication number)：1995012680
Application date： Jun. 25, 1993
Publication date： Jan. 17, 1995
Summary：

【要約】【目的】 構成が簡潔で、測定の作業性が良く、複数の入出力ポートを有する複数の光部品の光学的特性を効率良く測定できるようにする。【構成】 光源1と検査される光部品2の複数の入射ポート3とを一括で切替え接続可能な入射ポート側切替部4と、光受光器6と光部品2の複数の出射ポート5とを一括で切替え接続可能な出射ポート側切替部7とを設けた。また、光部品2の出射ポート5側の出射端面8を斜面にした。また、光部品2の出射ポート側切替部7の出射側マスターファイバ9を大口径ファイバにした。また、出射ポート側切替部7の出射側にセルフォックレンズを配置した。

Claim (excerpt)：

光源1と、検査される光部品2の複数の入射ポート3を一括で切替え接続可能な入射ポート側切替部4と、光受光器6と、光部品2の複数の出射ポート5を一括で切替え接続可能な出射ポート側切替部7とを備えたことを特徴とする光部品自動測定装置。

IPC (3)：

G01M 11/00 ,  H01L 33/00 ,  B65H 43/08

Patent cited by the Patent：

Cited by examiner (3)

• 光ケーブルの検査装置
  Gazette classification：公開公報   Application number：特願平3-224320   Applicant：住友電気工業株式会社
• 特開昭55-152433
  
• 特開昭55-182141