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J-GLOBAL ID：200903064607395792

対象の長さを決定する方法およびコンピュータ断層撮影システム

Inventor：
ジャン・ヘシエー

About ジャン・ヘシエー


Applicant, Patent owner：
ゼネラル・エレクトリック・カンパニイ

About ゼネラル・エレクトリック・カンパニイ


Agent (1)： 松本 研一
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2000126740
Publication number (International publication number)：2000350726
Application date： Apr. 27, 2000
Publication date： Dec. 19, 2000
Summary：
【要約】【課題】 イメージング・システムで、投影面と平行でない方向に曲率を有するような関心対象(OOI)の長さを正確に決定するための方法および装置を提供する。【解決手段】 MIP画像(56)を利用してOOI(50)を特定したのち、各画像に対するOOIの境界(62,64)および中心(58)を決定する。決定した境界および中心を利用してOOIの長さを決定する。具体的には、このOOIの長さは、各隣接する画像間の距離を決定し次いでこの結果の値を合計することにより決定される。次いで、この距離は、距離インジケータによるか、あるいは数値表示によりMIP画像上に表示される。
Claim (excerpt)：
イメージング・システムで作成された断層撮影画像を用いて、対象の長さを決定する方法であって、曲率を有する関心対象を特定するステップと、前記関心対象の境界を決定するステップと、前記関心対象の長さを決定するステップと、を含む前記方法。
IPC (4)：
A61B 6/03 360 ,  A61B 6/03 375 ,  G06T 1/00 290 ,  G06T 7/60 150
FI (4)：
A61B 6/03 360 B ,  A61B 6/03 375 ,  G06T 1/00 290 B ,  G06T 7/60 150 J
Patent cited by the Patent：
Cited by examiner (5)
  • 三次元画像の対象部分抽出方法
    Gazette classification：公開公報   Application number：特願平6-329826   Applicant：株式会社日立メディコ
  • 密度分布からの寸法の測定
    Gazette classification：公表公報   Application number：特願平9-514862   Applicant：フィリップスエレクトロニクスエヌベー
  • 画像表示装置
    Gazette classification：公開公報   Application number：特願平4-060829   Applicant：株式会社東芝
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