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J-GLOBAL ID：200903064668867360
X線異物検出装置
Inventor：
Applicant, Patent owner：
Agent (1)：
西村 教光 (外1名)
Gazette classification：公開公報
Application number (International application number)：2000332885
Publication number (International publication number)：2002139458
Application date： Oct. 31, 2000
Publication date： May. 17, 2002
Summary：
【要約】【課題】 被検査物のX線透過レベル及び基準値を容易に認識でき、被検査物中の異物の混入の状態をより正確に確認可能なこと。【解決手段】 X線検出器9は被検査物2を透過したX線の強さを処理手段13に出力する。処理手段13に設けられる表示処理部16は、X線検出器9から出力されるX線透過レベルのピーク値を被検査物2の長さ方向の複数箇所でX線透過レベルに対応した高さのバーB1〜Bnで領域D1に表示する。この領域D1のバーB1〜Bn上には、異物G混入の有無判定用の基準値の線状Rが重ねて表示される。これにより、基準値に対するX線透過レベルのレベル差を容易に把握できる。
Claim (excerpt)：
被検査物(2)にX線を曝射し、このX線の曝射に伴って前記被検査物を透過してくるX線の透過量から前記被検査物中の異物(G)の有無を検査し、この検査結果を表示器(15)に表示するX線異物検出装置(1)において、前記被検査物を透過したX線の強さに対応した信号を出力するX線検出器(9)と、前記被検査物の所定箇所における前記X線検出器の出力である透過レベルと、異物混入の有無判断用の閾値である予め設定された基準値とを前記表示器の同一の表示領域(D1)に表示する表示処理部(16)と、を備えたことを特徴とするX線異物検出装置。
F-Term (16)：
2G001AA01
, 2G001BA11
, 2G001CA01
, 2G001DA08
, 2G001FA06
, 2G001GA01
, 2G001HA01
, 2G001HA07
, 2G001HA13
, 2G001JA09
, 2G001JA11
, 2G001JA13
, 2G001JA20
, 2G001KA03
, 2G001LA01
, 2G001PA11
Cited by examiner (1)
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X線検査装置
Gazette classification：公開公報
Application number：特願2000-335214
Applicant：株式会社イシダ, 株式会社東研
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