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J-GLOBAL ID:200903064727447320

ユーセントリック型傾斜三次元X線CT及びそれによる三次元画像の撮影方法

Inventor:
Applicant, Patent owner:
Agent (1): 林 宏
Gazette classification:公開公報
Application number (International application number):2002135870
Publication number (International publication number):2003329616
Application date: May. 10, 2002
Publication date: Nov. 19, 2003
Summary:
【要約】【課題】 平面面積の大きな平たい測定物の全体を撮影できるばかりでなく、一部の高拡大率三次元断層撮影も行えるようにしたユーセントリック型傾斜三次元X線CTを提供する。【解決手段】 測定物Dを載置するための、回転軸を任意の位置に設定できるユーセントリックテーブルTと、X線源Aとそれに対向配置されてユーセントリックテーブル上の測定物の投影像を検出する二次元検出器Bとを備える。上記X線源と上記二次元検出器とは、それらを結ぶ軸線が上記回転軸に対して90度より小さい角度で交わるように配置する。
Claim (excerpt):
測定物を載置するための、回転軸を任意の位置に設定できるユーセントリックテーブルと、X線源とそれに対向配置されてユーセントリックテーブル上の測定物の投影像を検出する二次元検出器とを備え、上記X線源と上記二次元検出器とを、それらを結ぶ軸線が上記回転軸に対して90度より小さい角度で交わるように配置し、90度より小さいあらゆる角度で三次元断層撮影を可能にした、ことを特徴とするユーセントリック型傾斜三次元X線CT。
F-Term (17):
2G001AA01 ,  2G001BA11 ,  2G001CA01 ,  2G001DA09 ,  2G001HA08 ,  2G001HA13 ,  2G001HA14 ,  2G001JA02 ,  2G001JA08 ,  2G001JA12 ,  2G001KA03 ,  2G001KA04 ,  2G001LA05 ,  2G001LA11 ,  2G001MA05 ,  2G001QA01 ,  2G001QA10
Patent cited by the Patent:
Cited by examiner (4)
  • X線透過検査装置
    Gazette classification:公開公報   Application number:特願平10-057303   Applicant:株式会社ユニハイト
  • X線透視装置
    Gazette classification:公開公報   Application number:特願2000-059222   Applicant:株式会社島津製作所
  • X線透視検査装置
    Gazette classification:公開公報   Application number:特願2000-099447   Applicant:東芝エフエーシステムエンジニアリング株式会社
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